[發明專利]搜跟一體雷達高精度S曲線擬合方法和系統

在審

• 申請號: 202310108802.3
• 申請日: 2023-02-10
• 公開（公告）號: CN115980681A
• 公開（公告）日: 2023-04-18
• 發明（設計）人: 劉衛平;趙晨帆;李禮;趙嬋娟;陳業偉
• 申請（專利權）人: 上海航天電子通訊設備研究所
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40;G01S13/58;G01S13/62;G01S13/68;G01S13/72
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

1.一種搜跟一體雷達高精度S曲線擬合方法，其特征在于，包括：

步驟1：根據實測天線方向圖繪制俯仰S曲線和方位S曲線，所述俯仰S曲線為各個測試頻點、測試角度及波束號下的，俯仰差和比—角誤差曲線，所述方位S曲線為方位差和比—角誤差曲線；

步驟2：選擇測試頻點和波束號，固定方位測試角為n_i(i＝1...n)，根據已知的m個俯仰測試角對應的S曲線樣本，獲取S曲線樣本隨俯仰掃描角的變化規律；其中，n為方位測試角個數，m為俯仰測試角個數；

步驟3：根據俯仰S曲線樣本隨俯仰角的變化規律，選擇插值方式，得到M個俯仰S曲線，根據方位S曲線樣本隨俯仰角的變化規律，選擇插值方式，得到M個方位S曲線；其中，M為天線方向圖的俯仰掃描角個數，應有5≤m≤M；

步驟4：固定俯仰角為M_j(j＝1...M)，根據已知的n個方位測試角對應的俯仰S曲線樣本，獲取S曲線樣本隨方位掃描角的變化規律；

步驟5：根據俯仰S曲線樣本隨方位角的變化規律，選擇插值方式，得到N個俯仰S曲線，根據方位S曲線樣本隨方位角的變化規律，選擇插值方式，得到N個方位S曲線；其中，N為天線方向圖的方位掃描角個數，應有5≤n≤N；

步驟6：判斷是否已遍歷所有波束號，若否，則改變波束號，返回執行步驟2；若是，則判斷是否已遍歷所有的測試頻點，若否，則改變測試頻點P_i(i＝1…P_測試)，返回執行步驟2，直至得到所有測試頻點和波束號下的M×N個俯仰S曲線和M×N個方位S曲線；其中，P_測試為測試頻點個數，3≤P_測試＜P_總，當P_測試＝3時，包括1個中心頻點、1個低頻點和1個高頻點；

步驟7：根據俯仰S曲線樣本隨測試頻點的變化規律，選擇插值方式，得到P_總個俯仰S曲線，根據方位S曲線樣本隨測試頻點的變化規律，選擇插值方式，得到P_總個方位S曲線；其中，P_總為雷達工作時所使用的頻點個數；

步驟8：將插值得到的所有曲線，依照預設格式存儲為二維角誤差數據表。

2.根據權利要求1所述的搜跟一體雷達高精度S曲線擬合方法，其特征在于，所述步驟1中根據實測天線方向圖繪制俯仰S曲線，包括：

步驟A1：提取和方向圖及俯仰差方向圖波束中心為Δθ范圍內的天線方向圖數據；

步驟A2：計算俯仰差方向圖與方向圖的幅度比，得到波束中心約Δθ范圍內俯仰差和比數據；

步驟A3：以掃描角為橫坐標，俯仰差和比為縱坐標建立俯仰差和S曲線坐標系，使波束中心為橫坐標零點，對小于0°內的俯仰差和比數據取反；

步驟A4：截取±r范圍內的差和比放大R倍，其中R由最終存儲地址的空間決定，以1為間隔利用多項式擬合的方式對原始數據進行插值，得到±r范圍內差和比一一對應的2r×R個量化數；

步驟A5：取角誤差的量化精度為θ₀，取存儲地址中的k位有符號位進行存儲，存儲的角誤差范圍為[-θ₀×2^k-1,θ₀×(2^k-1-1)]，令超出角誤差范圍的部分與邊界值相等，再將橫縱坐標互換，使橫坐標為差和比，縱坐標為角誤差，得到俯仰S曲線。