[發(fā)明專利]一種寄存器的校驗方法、裝置及設備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310079471.5 | 申請日: | 2023-02-08 |
| 公開(公告)號: | CN115934449B | 公開(公告)日: | 2023-06-02 |
| 發(fā)明(設計)人: | 王德平;趙慧超;馮朝生;鄭紅麗;關忠旭;王斯博;王浩宇;楊慧凱;李林男;包呼日查;徐珊珊;龔娜娜 | 申請(專利權)人: | 合肥智芯半導體有限公司;中國第一汽車股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 北京力量專利代理事務所(特殊普通合伙) 11504 | 代理人: | 郭大為 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 寄存器 校驗 方法 裝置 設備 | ||
1.一種寄存器的校驗方法,其特征在于,包括:
獲取當前需要校驗的外部寄存器的配置數據;
對所述配置數據進行循環(huán)移位校驗處理,得到外部寄存器的實時校驗值;
將所述實時校驗值與存儲模塊存儲的初始校驗值進行比對,獲得比對結果;
根據所述比對結果向中央處理器發(fā)送中斷信號。
2.根據權利要求1所述的寄存器的校驗方法,其特征在于,獲取當前需要校驗的外部寄存器的配置數據,包括:
通過存儲訪問控制器獲取當前需要校驗的外部寄存器的配置數據。
3.根據權利要求2所述的寄存器的校驗方法,其特征在于,通過存儲訪問控制器獲取當前需要校驗的外部寄存器的配置數據,包括:
按照定時器單元設置的定時周期,通過存儲訪問控制器周期性獲取當前需要校驗的外部寄存器的配置數據。
4.根據權利要求1所述的寄存器的校驗方法,其特征在于,對所述配置數據進行循環(huán)移位校驗處理,得到外部寄存器的實時校驗值,包括:
按照地址偏移規(guī)律,對所述配置數據進行地址循環(huán)移位一預設比特位,得到外部寄存器的實時校驗值。
5.根據權利要求1所述的寄存器的校驗方法,其特征在于,所述存儲模塊存儲的初始校驗值通過以下過程獲得:
在存儲訪問控制器啟動時,通過所述存儲訪問控制器獲取至少兩個外部寄存器的配置數據;
通過地址掩碼模塊對所述至少兩個外部寄存器中不需要校驗的外部寄存器進行過濾,得到需要校驗的外部寄存器;
按照地址偏移規(guī)律,對需要校驗的外部寄存器的配置數據進行地址循環(huán)移位一預設比特位,得到需要校驗的外部寄存器的初始校驗值。
6.根據權利要求5所述的寄存器的校驗方法,其特征在于,通過地址掩碼模塊對所述至少兩個外部寄存器中不需要校驗的寄存器進行過濾,得到需要校驗的外部寄存器,包括:
通過地址掩碼模塊對所述至少兩個外部寄存器的地址分別進行掩碼計算,得到多個掩碼地址;
將所述掩碼地址不在預設地址范圍的寄存器進行過濾,得到需要校驗的外部寄存器。
7.根據權利要求1所述的寄存器的校驗方法,其特征在于,根據所述比對結果向中央處理器發(fā)送中斷信號,包括:
若所述比對結果表示校驗通過,向中央處理器發(fā)送校驗完成的第一中斷信號;
若所述比對結果表示校驗失敗,向中央處理器發(fā)送校驗失敗的第二中斷信號。
8.一種寄存器的校驗裝置,其特征在于,包括:
校驗模塊,用于獲取當前需要校驗的外部寄存器的配置數據;對所述配置數據進行循環(huán)移位校驗處理,得到外部寄存器的實時校驗值;
校驗比對模塊,用于將所述實時校驗值與存儲模塊存儲的初始校驗值進行比對,獲得比對結果;根據所述比對結果向中央處理器發(fā)送控制信號。
9.一種計算設備,包括:處理器、存儲有計算機程序的存儲器,所述計算機程序被處理器運行時,執(zhí)行如權利要求1至7任一項所述的方法。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,存儲指令,當所述指令在計算機上運行時,使得計算機執(zhí)行如權利要求1至7任一項所述的方法。
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