[發明專利]檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202310072575.3
• 申請日: 2023-01-16
• 公開（公告）號: CN116026238A
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 黎定勇;宋揚
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/02;G01B15/00;G01B17/00
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 韓園園;徐川

本申請提供了一種檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質；方法包括：向檢測區域發射第一檢測信號并獲得第一反饋信號；第一檢測信號的方向與第一反饋信號的方向滿足相反條件；在檢測區域內的待測對象，沿轉動基準轉動180度后，向檢測區域發射第二檢測信號并獲得第二反饋信號；其中，第一檢測信號和第二檢測信號的方向與轉動基準滿足垂直條件；根據第一檢測參數和第二檢測參數，確定待測對象在第一方向下的尺寸信息；其中，第一檢測參數能基于第一檢測信號和第一反饋信號確定，第二檢測參數能基于第二檢測信號和第二反饋信號確定。

技術領域

本申請涉及測量技術，尤其涉及一種檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

目前，對于物品的尺寸測量通常是采用測量工具通過人工手動測量，或者利用自動化測量設備進行測量。然而這些自動化測量設備進行尺寸測量時，通常需要人工設定基準點，并在每次測量時需要人為確定基準線并進行相應地對齊操作等，測量效率不高。

發明內容

本申請實施例提供一種檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質，能夠提高測量效率。

本申請實施例的技術方案是這樣實現的：

本申請實施例提供一種檢測方法，包括：

向檢測區域發射第一檢測信號并獲得第一反饋信號，所述第一反饋信號為所述第一檢測信號在所述檢測區域內的待測對象的第一局部上反射后形成的信號；所述第一檢測信號的方向與第一反饋信號的方向滿足相反條件；

在所述檢測區域內的所述待測對象，沿轉動基準轉動180度后，向檢測區域發射第二檢測信號并獲得第二反饋信號，所述第二反饋信號為所述第二檢測信號在所述檢測區域內的待測對象的第二局部上反射后形成的信號；其中，所述第一檢測信號和所述第二檢測信號的方向與所述轉動基準滿足垂直條件；

根據第一檢測參數和第二檢測參數，確定所述待測對象在第一方向下的尺寸信息；其中，所述第一檢測參數能基于第一檢測信號和第一反饋信號確定，所述第二檢測參數能基于第二檢測信號和第二反饋信號確定。

上述方案中，包括：

獲得所述待測對象的形狀信息；

根據所述形狀信息，確定檢測信號的發射條件；

根據所述發射條件和所述待測對象的轉動初始位置，發射所述檢測信號并獲得反饋信號，所述反饋信號為所述檢測信號在所述檢測區域內的待測對象上反射后形成的信號；

根據所述檢測信號和所述反饋信號，確定所述待測對象在至少一個方向下的尺寸信息；

其中，所述檢測信號至少包括所述第一檢測信號和所述第二檢測信號，所述反饋信號至少包括所述第一反饋信號和所述第二反饋信號。

上述方案中，包括：

獲得所述待測對象的形狀信息；

根據所述形狀信息，確定檢測信號和反饋信號的處理條件；

在滿足所述處理條件的情況下，根據所述檢測信號和所述反饋信號，確定所述待測對象在至少一個方向下的尺寸信息；

其中，所述檢測信號至少包括所述第一檢測信號和所述第二檢測信號，所述反饋信號至少包括所述第一反饋信號和所述第二反饋信號。

上述方案中，所述根據第一檢測參數和第二檢測參數，確定所述待測對象在第一方向下的尺寸信息；其中，所述第一檢測參數能基于第一檢測信號和第一反饋信號確定，所述第二檢測參數能基于第二檢測信號和第二反饋信號確定，包括：