[發明專利]內存插槽測試系統

在審

• 申請號: 202310070414.0
• 申請日: 2023-01-19
• 公開（公告）號: CN116302735A
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 崔守啟;陳金龍
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 喬慧

1.一種內存插槽測試系統，其特征在于，包括：

轉接卡模塊，所述轉接卡模塊的第一端插接于待測試插槽模塊，所述轉接卡模塊的第二端連接分析模塊，用于在內存設備接入測試數據時，接收待測試插槽模塊輸出的測試輸出信息，并向所述分析模塊發送所述測試輸出信息，所述內存設備插接于所述轉接卡模塊；

待測試插槽模塊，所述待測試插槽模塊用于在所述內存設備接入測試數據時，輸出針對所述內存設備在測試過程中的測試輸出信息；

電源檢測模塊，所述電源檢測模塊的第一端與所述分析模塊連接，所述電源檢測模塊的第二端與所述內存設備連接，用于在所述內存設備接入測試數據時，獲取所述內存設備的電源信息，并向所述分析模塊發送所述電源信息；

分析模塊，所述分析模塊用于接收所述轉接卡模塊的測試輸出信息以及所述電源檢測模塊的電源信息，并基于所述測試輸出信息以及所述電源信息，確定所述待測試插槽模塊的測試結果。

2.根據權利要求1所述的內存插槽測試系統，其特征在于，還包括：總線模塊；

所述總線模塊的第一端連接所述內存設備，所述總線模塊的第二端連接所述待測試插槽模塊，用于將所述內存設備的溫度信息傳輸至所述待測試插槽模塊。

3.根據權利要求2所述的內存插槽測試系統，其特征在于，所述將所述內存設備的溫度信息傳輸至所述待測試插槽模塊，包括：

所述總線模塊基于雙向二線制同步串行總線，將所述內存設備的溫度信息傳輸至所述待測試插槽模塊。

4.根據權利要求2所述的內存插槽測試系統，其特征在于，所述轉接卡模塊還用于獲取所述待測試插槽模塊的溫度信息，并向所述分析模塊發送所述溫度信息。

5.根據權利要求4所述的內存插槽測試系統，其特征在于，所述向所述分析模塊發送所述溫度信息之后，還包括：

所述分析模塊將所述溫度信息與預設溫度閾值進行比對，確定所述待測試插槽模塊的運行狀態分析結果。

6.根據權利要求1所述的內存插槽測試系統，其特征在于，還包括：數據鏈路模塊；

所述數據鏈路模塊的第一端連接所述內存設備，所述數據鏈路模塊的第二端連接所述待測試插槽模塊，用于所述內存設備與所述待測試插槽模塊之間數據的傳輸。

7.根據權利要求1所述的內存插槽測試系統，其特征在于，所述電源檢測模塊還用于為所述內存設備供電。

8.根據權利要求1所述的內存插槽測試系統，其特征在于，還包括：接口模塊；

所述接口模塊的第一端與所述分析模塊連接，所述接口模塊的第二端與存儲設備連接，用于存儲所述分析模塊的測試結果、所述測試輸出信息以及所述電源信息。

9.根據權利要求1所述的內存插槽測試系統，其特征在于，所述基于所述測試輸出信息以及所述電源信息，確定所述待測試插槽模塊的測試結果，包括：

基于所述電源信息，確定所述電源信息對應的待測試插槽模塊的預期輸出信息；

將所述預期輸出信息與所述測試輸出信息進行對比，確定所述待測試插槽模塊的測試結果。

10.根據權利要求1-9任一項所述的內存插槽測試系統，其特征在于，所述測試輸出信息包括電壓信息、電流信息以及功率信息。