[發明專利]一種星載有源相控陣天線熱真空實驗方法

在審

• 申請號: 202310070137.3
• 申請日: 2023-02-07
• 公開（公告）號: CN116184076A
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 張濟良;肖松;董培松;韓國棟;齊宏業;崔子卿;盧煒
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十四研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R29/10;B64G7/00
• 代理公司: 河北東尚律師事務所 13124
• 代理人: 王文慶

1.一種星載有源相控陣天線熱真空實驗方法，其特征在于，具體包括以下步驟，

步驟1，在保留有源相控陣天線內部結構以及T/R組件的前提下，拆除星載有源相控陣天線最外側的無源發射天線陣面；

步驟2，在T/R組件端口上安裝匹配負載；

步驟3，在匹配負載上設置導熱結構，將發射信號轉換成的負載生熱及時導出并向外輻射；

步驟4，將連接好導熱工裝的相控陣天線放入熱真空罐內。；

步驟5，將T/R組件的其中一個作為檢測組件，采用有線連接的方式將發射信號輸出至熱真空罐外的頻譜儀；

步驟6，首先對監測組件進行相位校準，保證每路輸出功率在合路器中進行最大疊加；

步驟7，調整信號源輸出功率值，在設計頻點上達到P-1狀態，并記錄在設計頻點上對應的頻譜儀讀數，其中，常溫、高溫和低溫讀數分別記錄為P1、P2和P3，對比相應頻點的常溫、高溫和低溫發射功率檢測值，將功率P2與P1、P3與P1分別作差得到P2-1、P3-1，記錄P2-1與P3-1中的較大值，作為高低溫功率的波動數值。

2.根據權利要求1所述的一種星載有源相控陣天線熱真空實驗方法，其特征在于，步驟1中，拆除的無源發射天線陣面指的是天線的發射單元；發射單元的形式包括但不限于陣子天線單元和微帶天線單元。

3.根據權利要求1所述的一種星載有源相控陣天線熱真空實驗方式，其特征在于，步驟2中，安裝的匹配負載根據輻射功率大小選擇合適阻值，且其端口形式應與T/R組件端口形式適配。

4.根據權利要求1所述的一種星載有源相控陣天線熱真空實驗方法，其特征在于，步驟3中，導熱結構與匹配負載之間設置導熱墊或者涂抹導熱硅脂。

5.根據權利要求1所述的一種星載有源相控陣天線熱真空實驗方法，其特征在于，步驟5中，檢測組件的輸出端接合路器，合路器的合口端接同軸線纜，同軸線纜的另一端通過熱真空罐轉接法蘭，將發射信號輸出至熱真空罐外的頻譜儀。

6.根據權利要求1所述的一種星載有源相控陣天線熱真空實驗方法，其特征在于，所述熱真空罐可替換為熱循環試驗的密閉溫箱。