[發(fā)明專利]后端測(cè)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310067256.3 | 申請(qǐng)日: | 2023-01-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116048902A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林楊;張智慧;舒永康;史雙;王路娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安紫光展銳科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F11/26 | 分類(lèi)號(hào): | G06F11/26;G06F11/22;G06N5/04 |
| 代理公司: | 北京匯思誠(chéng)業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11444 | 代理人: | 蘇勝 |
| 地址: | 710000 陜西省西安市高新區(qū)魚(yú)化街辦軟*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 后端 測(cè)試 方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 | ||
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種后端測(cè)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備。該方法包括:獲取參數(shù)數(shù)據(jù)包、網(wǎng)絡(luò)模型文件與測(cè)試數(shù)據(jù);根據(jù)參數(shù)數(shù)據(jù)包、網(wǎng)絡(luò)模型文件與測(cè)試數(shù)據(jù)生成推理結(jié)果;根據(jù)網(wǎng)絡(luò)模型文件與測(cè)試數(shù)據(jù)生成基線數(shù)據(jù);根據(jù)基線數(shù)據(jù)與推理結(jié)果生成后端測(cè)試結(jié)果;根據(jù)在模型訓(xùn)練的過(guò)程中接入的后端,實(shí)時(shí)驗(yàn)證訓(xùn)練模型在不同后端上的數(shù)值穩(wěn)定性。從而能夠快速的測(cè)試后端推理數(shù)值的穩(wěn)定性;能夠接入不同的后端,達(dá)到實(shí)時(shí)的測(cè)試軟件仿真硬件、原理驗(yàn)證硬件或真實(shí)后端硬件的目的;也能夠快速驗(yàn)證已有后端在不同網(wǎng)絡(luò)模型上的性能;通過(guò)后端測(cè)試結(jié)果可以使技術(shù)人員容易發(fā)現(xiàn)后端的邏輯設(shè)計(jì)缺陷,為后期的修改提供了指導(dǎo)方向,減少了研發(fā)周期。
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明實(shí)施例涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種后端測(cè)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備。
【背景技術(shù)】
在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理器(Neural-network?Processing?Unit,NPU)、張量處理器(Tensor?Processing?Unit,TPU)、深度學(xué)習(xí)處理器(Deep?learning?Processing?Unit,DPU)等后端的設(shè)計(jì)過(guò)程中,硬件設(shè)計(jì)的周期性較長(zhǎng)。在后端完成邏輯設(shè)計(jì)后進(jìn)行用戶體驗(yàn)測(cè)試的過(guò)程中,若后端的設(shè)計(jì)缺陷則會(huì)導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)模型推理結(jié)果存在較大的精度誤差,增加研發(fā)周期。
【發(fā)明內(nèi)容】
有鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種后端測(cè)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備,用以解決現(xiàn)有技術(shù)中后端的設(shè)計(jì)缺陷則會(huì)導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)模型推理結(jié)果存在較大的精度誤差,增加研發(fā)周期的問(wèn)題。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種后端測(cè)試方法,包括:
獲取參數(shù)數(shù)據(jù)包、網(wǎng)絡(luò)模型文件與測(cè)試數(shù)據(jù);
根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包、所述網(wǎng)絡(luò)模型文件與所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成推理結(jié)果;
根據(jù)所述網(wǎng)絡(luò)模型文件與所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成基線數(shù)據(jù);
根據(jù)所述基線數(shù)據(jù)與所述推理結(jié)果生成后端測(cè)試結(jié)果。
在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述參數(shù)數(shù)據(jù)包包括第一測(cè)試環(huán)境參數(shù),所述根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包、所述網(wǎng)絡(luò)模型文件與所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成推理結(jié)果,包括:
在所述第一測(cè)試環(huán)境參數(shù)對(duì)應(yīng)的第一后端環(huán)境下,根據(jù)所述網(wǎng)絡(luò)模型文件生成第一推理圖;
根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包判斷是否更新所述第一推理圖;
若判斷出更新所述第一推理圖,則根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包與所述第一推理圖生成第二推理圖;
根據(jù)所述第二推理圖生成第一執(zhí)行隊(duì)列;
根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)與所述第一執(zhí)行隊(duì)列生成所述推理結(jié)果。
在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包判斷是否更新所述第一推理圖,包括:
判斷所述參數(shù)數(shù)據(jù)包中是否包括匹配后端替換標(biāo)識(shí);
若判斷出所述參數(shù)數(shù)據(jù)包中包括所述匹配后端替換標(biāo)識(shí),則確定出更新所述第一推理圖。
在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述參數(shù)數(shù)據(jù)包包括第二測(cè)試環(huán)境參數(shù),所述根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包、所述網(wǎng)絡(luò)模型文件與所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成推理結(jié)果,包括:
在所述第二測(cè)試環(huán)境參數(shù)對(duì)應(yīng)的第二后端環(huán)境下,根據(jù)所述網(wǎng)絡(luò)模型文件生成第三推理圖;
根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包判斷是否更新所述第三推理圖;
若判斷出更新所述第三推理圖,則根據(jù)所述參數(shù)數(shù)據(jù)包與所述第三推理圖生成第四推理圖;
根據(jù)所述第四推理圖生成第一順序與第一執(zhí)行總文件;
根據(jù)所述第一順序、所述第一執(zhí)行總文件與所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成所述推理結(jié)果。
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G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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