[發(fā)明專利]形狀測量設(shè)備的控制方法和記錄存儲器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310062101.0
• 申請日: 2016-06-02
• 公開（公告）號: CN116086272A
• 公開（公告）日: 2023-05-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 野田孝;出口博美;菊池直也
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社三豐
• 主分類號: G01B5/008
• 分類號: G01B5/008;G01B5/20
• 代理公司: 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;張文慧

1.一種形狀測量設(shè)備(200)的控制方法，所述形狀測量設(shè)備包括前端具有觸針頭(232)的探測器(230)和用以移動所述探測器(230)的移動機(jī)構(gòu)(220)，并且所述形狀測量設(shè)備(200)通過檢測所述觸針頭(232)與工件(W)的表面之間的接觸來測量工件(W)的形狀，所述控制方法包括以下步驟：

預(yù)先準(zhǔn)備標(biāo)稱掃描測量所用的菜單；

使用戶從預(yù)先準(zhǔn)備的幾何形狀菜單中選擇工件(W)的形狀；

使用戶從預(yù)先準(zhǔn)備的測量路徑菜單中選擇測量路徑；

使用戶根據(jù)所選擇的幾何形狀來輸入用以指定該幾何形狀的參數(shù)；

使用戶根據(jù)所選擇的測量路徑來輸入用以指定該測量路徑的參數(shù)；

基于所選擇的幾何形狀、所輸入的幾何形狀的參數(shù)、所選擇的測量路徑、以及所輸入的測量路徑的參數(shù)，使用預(yù)先準(zhǔn)備的計(jì)算公式來計(jì)算工件(W)上的測量點(diǎn)和各測量點(diǎn)的法線方向；以及

計(jì)算在掃描測量點(diǎn)的序列的情況下進(jìn)行移動所用的掃描測量的路徑，并且以掃描所述掃描測量的路徑的方式進(jìn)行所述掃描測量，

所述控制方法的特征在于，

預(yù)先準(zhǔn)備的標(biāo)稱掃描測量所用的菜單使用近似函數(shù)來代替CAD數(shù)據(jù)，以及

在無需工件(W)的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)的情況下進(jìn)行所述掃描測量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形狀測量設(shè)備(200)的控制方法，其中，所述幾何形狀菜單至少包括球體、柱體、錐體和平面。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的形狀測量設(shè)備(200)的控制方法，其中，所述測量路徑菜單至少包括螺旋和正弦曲線。

4.一種非易失性記錄存儲器，其包含使計(jì)算機(jī)執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1所述的形狀測量設(shè)備(200)的控制方法的形狀測量設(shè)備(200)所用的控制程序。