[發明專利]一種BLDC電機生產線快速檢驗系統及控制方法

在審

• 申請號: 202310049217.0
• 申請日: 2023-02-01
• 公開（公告）號: CN116298863A
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 華傳明;巫小英
• 申請（專利權）人: 深圳市致誠達科技有限公司
• 主分類號: G01R31/34
• 分類號: G01R31/34;G05B19/04
• 代理公司: 北京廣技專利代理事務所(特殊普通合伙) 11842
• 代理人: 崔征

本發明提供了一種BLDC電機生產線快速檢驗系統及控制方法，包括：自巡觸點規模檢驗探針陣分系統，通過大規模自巡觸點檢驗探針陣對BLDC電機生產過程中的觸點進行自巡觸點探針陣大規模快速檢驗；檢測探針觸壓觸檢驅動分系統，通過集散排布觸點探針陣觸手驅動大規模檢驗自巡觸點探針陣，并獲取觸檢驅動檢驗控制數據；觸檢驅動自動控制分系統，進行自適應邏輯控制編程，實現觸檢驅動自適應邏輯控制；BLDC電機生產線智能管控分系統，根據觸檢驅動自適應邏輯控制數據及BLDC電機生產線前端數據，進行生產交互快速檢驗；并通過全角度影像實景合成管控BLDC電機生產全過程，智能化大批量獲取BLDC電機檢驗結果。

技術領域

本發明涉及電機精密檢測自動智能控制技術領域，更具體地說，本發明涉及一種BLDC電機生產線快速檢驗系統及控制方法。

背景技術

目前，BLDC電機生產線檢驗多以各部件獨立檢驗為主，檢驗過程的自適應智能化程度不高，對于大規模快速檢驗的技術問題尚待提高；主要問題包括：如何對BLDC電機生產過程中的觸點進行自巡觸點探針陣大規模快速檢驗、如何驅動大規模檢驗自巡觸點探針陣并獲取觸檢驅動檢驗控制數據、如何實現觸檢驅動自適應邏輯控制、如何進行生產交互快速檢驗及如何快速生成BLDC電機檢驗參數等問題尚待解決；因此，有必要提出一種BLDC電機生產線快速檢驗系統及控制方法，以至少部分地解決現有技術中存在的問題。

發明內容

在發明內容部分中引入了一系列簡化形式的概念，這將在具體實施方式部分中進一步詳細說明；本發明的發明內容部分并不意味著要試圖限定出所要求保護的技術方案的關鍵特征和必要技術特征，更不意味著試圖確定所要求保護的技術方案的保護范圍。

為至少部分地解決上述問題，本發明提供了一種BLDC電機生產線快速檢驗系統，包括：

自巡觸點規模檢驗探針陣分系統，通過大規模自巡觸點檢驗探針陣對BLDC電機生產過程中的觸點進行自巡觸點探針陣大規模快速檢驗；

檢測探針觸壓觸檢驅動分系統，通過集散排布觸點探針陣觸手驅動大規模檢驗自巡觸點探針陣，并獲取觸檢驅動檢驗控制數據；

觸檢驅動自動控制分系統，根據觸檢驅動檢驗控制數據進行自適應邏輯控制編程，實現觸檢驅動自適應邏輯控制；

BLDC電機生產線智能管控分系統，根據觸檢驅動自適應邏輯控制數據及BLDC電機生產線前端數據，進行生產交互快速檢驗；并通過全角度影像實景合成管控BLDC電機生產全過程，快速生成BLDC電機檢驗參數，智能化大批量獲取BLDC電機檢驗結果。

優選的，自巡觸點規模檢驗探針陣分系統，包括：

BLDC電機部件觸點數據子系統，搜集BLDC電機生產歷史過程中部件需檢驗觸點數據，獲取BLDC電機過程部件需檢驗觸點數據；

自巡觸點探針設置子系統，根據BLDC電機生產部件需檢驗觸點數據，設置大規模自巡觸點檢驗探針陣；大規模自巡觸點檢驗探針陣包括：定子繞線固化引線觸點檢驗探針、轉子電性檢驗觸點檢驗探針、換向焊腳觸點檢驗探針、轉軸間隙觸點檢驗探針及整機端子綜合檢驗觸點檢驗探針；

探針自巡觸點對接子系統，通過大規模自巡觸點檢驗探針陣中的探針對接BLDC電機生產部件需檢驗觸點，對BLDC電機生產過程中的觸點進行自巡觸點探針陣大規模快速檢驗。

優選的，檢測探針觸壓觸檢驅動分系統，包括：

觸點探針排布路徑子系統，根據大規模自巡觸點檢驗探針陣的觸點探針陣排布，設置觸點位置探針集散排布及觸點位置探針移動路徑；

集散排布快檢路徑子系統，觸點位置探針集散排布按照觸點位置集中分散度進行探針集散排布；根據觸點位置探針集散排布，通過快速檢驗最短路徑設置觸點位置探針移動路徑；