[發(fā)明專利]質(zhì)量分析方法及質(zhì)量分析裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310045932.7
• 申請日: 2023-01-30
• 公開（公告）號: CN116544094A
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 前田一真
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/02
• 代理公司: 上海立群專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31291
• 代理人: 楊楷;毛立群

本發(fā)明的質(zhì)量分析裝置即使在CE值個數(shù)不同的情況下也將累計質(zhì)譜的圖案的變化抑制得較小，具備包括碰撞池(17)和對產(chǎn)物離子進(jìn)行質(zhì)量分析的質(zhì)量分離部(20～23)的測量部(1)，能夠執(zhí)行MS/MS分析，該質(zhì)量分析裝置具備：CES法條件決定部(321)，與包含CE值的范圍及CE值的個數(shù)的條件對應(yīng)來決定CES法中的多個CE值，以將個數(shù)為n+1(其中n為3以上的任意整數(shù))時的n+1個CE值設(shè)為在該個數(shù)為n時的n個CE值加入與其不同的1個CE值而得的值的方式，決定n+1個CE值；分析控制部(30)，將CE依次變化為在CES法條件決定部中決定的n+1個CE值，并且控制測量部以執(zhí)行各CE值下的MS/MS分析；數(shù)據(jù)處理部(33)，累計分別得到的不同CE值下的質(zhì)譜來獲取累計質(zhì)譜。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及能夠進(jìn)行MS/MS分析的質(zhì)量分析裝置及該質(zhì)量分析裝置中的質(zhì)量分析方法。

背景技術(shù)

為了鑒定分子量大的化合物或解析其化合結(jié)構(gòu)，作為質(zhì)量分析的方法之一的MS/MS分析是有用的方法。作為能夠進(jìn)行MS/MS分析的質(zhì)量分析裝置，眾所周知有三重四極型質(zhì)量分析裝置和四極-飛行時間型質(zhì)量分析裝置(以下稱為“Q-TOF型質(zhì)量分析裝置”)。一般來說，這些質(zhì)量分析裝置具備碰撞池，使具有規(guī)定的能量(碰撞能量)并導(dǎo)入到碰撞池內(nèi)的離子與碰撞氣體碰撞，產(chǎn)生碰撞誘導(dǎo)解離(C?I?D)，從而使該離子解離。然后，對通過該解離而生成的產(chǎn)物離子進(jìn)行質(zhì)量分析從而生成質(zhì)譜(產(chǎn)物離子譜)。

化合物中的各種鍵合部位的鍵合能量因其部位而異，因此鍵合部位的容易被切斷的程度也因其部位而異。因此，在上述質(zhì)量分析裝置中，若使導(dǎo)入到碰撞池的離子所具有的碰撞能量(以下有時簡稱為“CE”)變化，則即使是源自相同化合物的相同離子，解離的方式不同，得到的產(chǎn)物離子譜的峰圖案也有所不同。

一般來說，為了鑒定具有復(fù)雜的化學(xué)結(jié)構(gòu)的化合物或進(jìn)行結(jié)構(gòu)解析，判明源自該化合物的各種片段的質(zhì)量比較方便。因此，以往已知有碰撞能量擴(kuò)展法(以下稱為“CES法”)這樣的分析方法，對一個目標(biāo)化合物將CE值改變?yōu)槎鄠€階段同時反復(fù)進(jìn)行產(chǎn)物離子掃描測量，累計這樣得到的多個質(zhì)譜從而生成可觀測到各種種類的產(chǎn)物離子的質(zhì)譜(參照專利文獻(xiàn)1等)。這樣生成的累計的質(zhì)譜(以下稱為“累計質(zhì)譜”)是混雜了源自通過在不同CE值下的解離而生成的各種產(chǎn)物離子的峰的質(zhì)譜。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：國際公開第2019/229942號

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的技術(shù)問題

在CES法中期望累計各種CE值下的質(zhì)譜，但此時的CE值的個數(shù)(CE值的變化的級數(shù))受到質(zhì)譜的累計次數(shù)和測量時間等分析條件的限制。在現(xiàn)有的質(zhì)量分析裝置中，CES法時的CE值是通過將作為分析條件之一的直接或間接指定的CE值的范圍(下限值～上限值)除以由譜累計次數(shù)或分配給基于CES法的測量的時間等限制確定的CE值個數(shù)來決定的。例如，在CE值范圍為20～50V、CE值個數(shù)為5的情況下，CES法中的CE值(V)為20、27.5、35、42.5、50的5個階段。此外，在相同的CE值范圍內(nèi)CE值個數(shù)為4的情況下，CES法中的CE值(V)為20、30、40、50的4個階段。另外，CE值的單位有時也使用eV，但由于通常用提供碰撞能量的電壓示出的情況較多，因此在此將單位統(tǒng)一為V。

如此，即使CE值范圍相同，若CE值個數(shù)即分析條件不同，則CE值也會發(fā)生較大變化，其結(jié)果為，有時累計質(zhì)譜的圖案會發(fā)生較大變化。累計質(zhì)譜對于利用了基于數(shù)據(jù)庫的圖案匹配等進(jìn)行的化合物的鑒定是有用的，但若在CE值個數(shù)不同的情況下累計質(zhì)譜的圖案的變化較大，則有可能妨礙如上所述的化合物鑒定。此外，也存在難以比較不同的累計質(zhì)譜的問題。

本發(fā)明是為了解決上述技術(shù)問題而完成的，其主要目的在于，提供一種在獲取基于CES法的累計質(zhì)譜時，即使在改變CE值個數(shù)的情況下也能夠避免累計質(zhì)譜的圖案發(fā)生較大變化的質(zhì)量分析方法及質(zhì)量分析裝置。

用于解決上述技術(shù)問題的方案