[發明專利]結構檢測

在審

• 申請號: 202310040869.8
• 申請日: 2023-01-12
• 公開（公告）號: CN116485708A
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: D·H·德蘭烏;亞歷山大·蘇佩斯
• 申請（專利權）人: 貝克休斯控股有限責任公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06N20/00
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 曹瑾

1.一種方法，所述方法包括：

由數據處理器接收在檢查物體期間獲取的第一圖像數據，所述第一圖像數據表征所述物體的感興趣區域，所述感興趣區域包含所述物體的一個或多個結構；

使用所述數據處理器和計算機視覺算法確定所述感興趣區域內的所述一個或多個結構中的至少一個結構，所述計算機視覺算法包括多個圖像濾波器，所述多個圖像濾波器被配置為針對所述第一圖像數據的多個像素的光度特性對所述第一圖像數據進行濾波，所述多個圖像濾波器中的每個圖像濾波器包括一個或多個圖像濾波器參數；以及

在第二圖像數據中提供所述至少一個結構的指示。

2.根據權利要求1所述的方法，其中確定所述感興趣區域內的所述至少一個結構還包括：

使用所述數據處理器接收所述物體的訓練圖像數據，所述訓練圖像數據包括至少一個第一注釋，所述至少一個第一注釋標識在所述訓練圖像數據中的至少一個感興趣區域中存在的物體的至少一個結構；

使用所述數據處理器和預測模型來確定與所述多個圖像濾波器的至少一個圖像濾波器參數相關聯的至少一組圖像濾波器參數值，所述預測模型被訓練以接收包括至少一個第一注釋的所述訓練圖像數據并且基于使用所述訓練圖像數據和所述至少一個第一注釋應用至少一個優化技術來確定所述多個圖像濾波器的每個圖像濾波器參數的所述至少一組圖像濾波器參數值；以及

基于所述至少一組圖像濾波器參數值更新所述計算機視覺算法的至少一個圖像濾波器。

3.根據權利要求2所述的方法，其中所述至少一種優化技術包括網格搜索技術、隨機搜索技術、列文伯格-馬夸爾特(Levenberg-

Marquardt)技術、梯度搜索技術、貝葉斯優化技術，或兩種或更多種優化技術的組合。

4.根據權利要求2所述的方法，其中所述預測模型被訓練以確定平均輪廓圖像濾波器參數、線跟蹤圖像濾波器參數或停止標準圖像濾波器參數中的至少一者的所述至少一組圖像濾波器參數值。

5.根據權利要求2所述的方法，其中響應于在所述第二圖像數據中提供所述至少一個結構的所述指示，所述方法還可以包括：

利用至少一個注釋修改所述第二圖像數據中的所述指示，并且將所述第二圖像數據包括在所述訓練圖像數據中，所述第二圖像數據包括所述至少一個結構的所述注釋；

表征所述物體的所述感興趣區域，其中所述表征包括表征所述感興趣區域中的缺陷或者將所述感興趣區域表征為有缺陷的；以及

基于使用包括所述第二圖像數據和所述至少一個結構的所述注釋的所述訓練圖像數據來訓練所述預測模型，確定所述至少一組圖像濾波器參數值。

6.根據權利要求1所述的方法，其中所述計算機視覺算法被配置為生成與所述多個像素的一部分相關聯的輪廓數據，所述部分對應于存在于所述感興趣區域內的至少一個結構，并且所述輪廓數據包括光度數據、尖端檢測數據、粒子檢測數據或空隙檢測數據中的至少一者。

7.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一圖像數據包括二維計算機斷層攝影圖像數據、三維計算機斷層攝影圖像數據或x射線照相數據。

8.根據權利要求1所述的方法，其中所述物體是鋰離子電池、鎳-金屬氫化物電池或鎳鎘電池。

9.根據權利要求1所述的方法，其中所述感興趣區域包括電池的陰極、電池的陽極、電池的外殼、電池的陰極與電池的陽極之間的體積、電池的陰極的中心線、電池的陽極的中心線以及電池的形狀的輪廓中的至少一者。

10.根據權利要求1所述的方法，所述方法還包括：

使用所述數據處理器確定所述物體在所述感興趣區域內的位置或者所述第一圖像數據的一個或多個部分的對準中的至少一者，所述一個或多個部分包括表征所述物體的所述感興趣區域；以及

提供所述物體在所述感興趣區域內的所述位置或者所述第一圖像數據的一個或多個部分的所述對準的指示。