[發明專利]一種范德瓦爾斯異質結型存儲器件及其制備方法在審
| 申請號: | 202310032710.1 | 申請日: | 2023-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN116033821A | 公開(公告)日: | 2023-04-28 |
| 發明(設計)人: | 房景治;林本川;王碩;崔浩楠;俞大鵬 | 申請(專利權)人: | 南方科技大學 |
| 主分類號: | H10N50/80 | 分類號: | H10N50/80;H10N52/80;H10N52/00;H10N50/10;H10N50/01;H10N52/01 |
| 代理公司: | 廣東金泰智匯專利商標代理事務所(普通合伙) 44721 | 代理人: | 江麗嬌 |
| 地址: | 518000 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 瓦爾 斯異質結型 存儲 器件 及其 制備 方法 | ||
1.一種范德瓦爾斯異質結型存儲器件,其特征在于,包括:
襯底;
設置于所述襯底之上的磁性拓撲絕緣體層;
設置于所述磁性拓撲絕緣體層之上的磁性絕緣體層,所述磁性絕緣體層橫跨在磁性拓撲絕緣體層之上;
設置于所述磁性拓撲絕緣體層之上的霍爾條型金屬電極,所述金屬電極的兩對霍爾電極位于磁性絕緣體層的兩側,縱向電極跨越該磁性絕緣體層;
所述磁性拓撲絕緣體層為具有本征反鐵磁性的二維層狀拓撲絕
緣體材料;
所述磁性絕緣體層為具有本征鐵磁性的二維層狀絕緣體材料。
2.如權利要求1所述的范德瓦爾斯異質結型存儲器件,其特征在于,所述具有本征反鐵磁性的二維層狀磁性拓撲絕緣體材料為MnBi2Te4,所述具有本征鐵磁性的二維層狀絕緣體材料為Cr2Ge2Te6。
3.如權利要求1所述的范德瓦爾斯異質結型存儲器件,其特征在于,所述磁性拓撲絕緣體層的層數為奇數,表現出宏觀磁矩。
4.如權利要求1所述的范德瓦爾斯異質結型存儲器件,其特征在于所述襯底為硅和二氧化硅襯底,在硅層之上覆蓋有均勻的二氧化硅層,共同形成柵極和絕緣層,提供背柵電壓調控。
5.如權利要求1所述的范德瓦爾斯異質結型存儲器件,其特征在于所述金屬電極為鉻和金雙層金屬,鉻的厚度為1-10nm,金的厚度為30-150nm。
6.如權利要求2所述的范德瓦爾斯異質結型存儲器件,其特征在于所述磁性拓撲絕緣體材料MnBi2Te4的層數為3層至11層之間的奇數層,其中每層的厚度約為1.4納米;所述磁性絕緣體Cr2Ge2Te6的厚度為0.8納米到50納米。
7.如權利要求1-6任一所述的范德瓦爾斯異質結型存儲器件的制備方法,其特征在于包括如下步驟:
S101提供一襯底,在襯底上制備拓撲磁性絕緣體MnBi2Te4層;
S102制備磁性絕緣體Cr2Ge2Te6層,并通過干法轉移的方式將其轉移至步驟S101的MnBi2Te4層之上形成異質結,其中Cr2Ge2Te6層橫跨MnBi2Te4層;
S103將金屬電極以霍爾條結構的方式刻制在步驟S102制成的異質結上,并用六方氮化硼封裝;所述霍爾條結構可以同時提供縱向電阻和霍爾電阻的四端法測量。
8.如權利要求7所述的制備方法,其特征在于所述MnBi2Te4層和Cr2Ge2Te6層通過機械剝離法自大塊單晶材料中獲得,大塊晶體的尺寸約0.1毫米到5毫米。
9.如權利要求8所述的制備方法,其特征在于所述機械剝離法是利用Scotch膠帶粘附大塊晶體,隨后將粘附有大塊晶體的Scotch膠帶放置于襯底上,去除膠帶后,即獲得所需厚度的MnBi2Te4層和Cr2Ge2Te6層;在放置于襯底之前,需要對襯底進行預清洗,清洗方法為:利用空氣等離子體對襯底表面進行30秒到10分鐘的處理。
10.如權利要求7所述的制備方法,其特征在于S103步驟所述霍爾條圖形的刻畫采用電子束曝光方法,金屬電極蒸鍍采用電子束蒸鍍,蒸鍍電極采用鉻和金雙層金屬電極。
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