[發明專利]一種微流控芯片質檢系統及質檢方法、檢測系統

在審

• 申請號: 202310031775.4
• 申請日: 2023-01-10
• 公開（公告）號: CN116026848A
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 陳龍超;梁倩;王谷豐;趙陸洋
• 申請（專利權）人: 深圳賽陸醫療科技有限公司
• 主分類號: G01N21/94
• 分類號: G01N21/94;G01N21/88
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 孫浩

本申請實施例涉及微流控芯片質檢技術領域，提供了一種微流控芯片質檢系統及質檢方法、檢測系統,該系統包括用于照明形成對微流控芯片照明的光斑的照明模塊、用于移動微流控芯片的載物模塊、成像模塊和連接其他模塊的主控模塊，成像模塊包括用于聚焦由所述光斑照明微流控芯片形成的第一光信號的成像單元、根據所述檢測模式形成的處理光信號，對微流控芯片進行光斑成像以得到光斑圖像信號的攝像單元，和設置于攝像單元與成像單元之間，并且用于切換檢測模式以濾除第一光信號中的預設波長光信號的濾光單元。通過使用成像模塊中的濾光模塊進行檢測模式變換，以獲得多種不同模式的光斑圖像信號，提高了微流控芯片的質檢光斑成像效率以此提高質檢效率。

技術領域

本申請涉及微流控芯片質檢技術領域，尤其涉及一種微流控芯片質檢系統及質檢方法、檢測系統。

背景技術

目前，微流控技術發展迅速，對于微流控芯片的需求逐漸增加，微流控芯片的產能也逐漸提升，微流控芯片被快速的生產。在快速生產的過程中，由于微流控芯片在制作過程中經過多道工序下來難免會使芯片表面受到污染，污染由多種物質形成，這些物質通過光學儀器進行質檢，在質檢過程中需要切換不同波長光源以得到不同物質形成的光信號，降低了質檢效率。

發明內容

本申請實施例的主要目的在于提出一種微流控芯片質檢系統及質檢方法、檢測系統，旨在提高微流控芯片的質檢效率。

為實現上述目的，本申請實施例的第一方面提出了一種微流控芯片質檢系統，所述系統包括：

照明模塊，用于形成照明所述微流控芯片的光斑；

載物模塊，用于移動所述微流控芯片；

成像模塊，包括攝像單元、濾光單元和成像單元；所述成像單元用于聚焦所述光斑照明所述微流控芯片形成的第一光信號；所述濾光單元設置于所述攝像單元和成像單元之間，用于切換檢測模式以濾除所述第一光信號中的預設波長光信號；所述攝像單元根據所述檢測模式形成的處理光信號對所述微流控芯片進行光斑成像以得到光斑圖像信號；

主控模塊，分別連接所述載物模塊、所述照明模塊和所述成像模塊。

在本申請一些可能的實施例，所述照明模塊包括：

激光發生單元，用于產生激光束；

光束整形單元，用于整形所述激光束以形成所述光斑；

激光傳輸單元，分別與所述激光發生單元和所述光束整形單元連接，用于將所述激光發生單元產生的所述激光束傳輸至所述光束整形單元。

在本申請一些可能的實施例，所述成像模塊還包括調整單元，用于根據所述主控模塊發送的調整信號調整以下任一參數：

所述攝像單元的第一焦距參數、所述攝像單元的第一位置參數、所述成像單元的第二焦距參數、所述成像單元的第二位置參數、所述濾光單元的第三位置參數。

在本申請一些可能的實施例，所述載物模塊包括：

芯片承載單元，用于承載所述微流控芯片；

位移控制單元，用于根據所述主控模塊發送的掃描信號控制所述芯片承載單元移動。

在本申請一些可能的實施例，所述激光束發生單元包括：

預激光束發生單元，用于產生預激光束，并調整所述預激光束的波長以得到所述激光束。

在本申請一些可能的實施例，所述系統還包括：

圖像處理模塊，與所述主控模塊連接，用于對所述光斑圖像信號進行圖像處理以得到目標圖像信號。

在本申請一些可能的實施例，所述濾光單元包括：

濾光元件，用于濾除所述第一光信號中的預設波長光信號；