[發(fā)明專(zhuān)利]一種p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310026577.9 | 申請(qǐng)日: | 2023-01-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116145243A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝雪健;仲光磊;徐現(xiàn)剛;陳秀芳;王得勝;胡小波;孫麗 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 山東大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | C30B23/00 | 分類(lèi)號(hào): | C30B23/00;C30B29/36 |
| 代理公司: | 濟(jì)南圣達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 37221 | 代理人: | 王磊 |
| 地址: | 250100 山*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 sic 生長(zhǎng) 坩堝 方法 | ||
1.一種p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝,其特征是,包括上坩堝、下坩堝和連接桿,所述連接桿為中空結(jié)構(gòu),連接桿的一端與上坩堝的下端開(kāi)口連通,連接桿的另一端與下坩堝的上端開(kāi)口連通,上坩堝內(nèi)下部設(shè)置內(nèi)堝,內(nèi)堝開(kāi)口向上,內(nèi)堝側(cè)壁高度小于上坩堝側(cè)壁高度,內(nèi)堝內(nèi)的空間為SiC粉料放置區(qū),內(nèi)堝上方的上坩堝內(nèi)的空間為SiC單晶生長(zhǎng)區(qū),內(nèi)堝與上坩堝之間形成縫隙,上坩堝的下端開(kāi)口通過(guò)所述縫隙與SiC單晶生長(zhǎng)區(qū)連通,上坩堝的上蓋設(shè)置為能夠使保護(hù)氣從上坩堝的上蓋進(jìn)入至上坩堝內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝,其特征是,下坩堝底部設(shè)置固定坑,所述固定坑用于固定放置摻雜劑塊;
或,連接桿材質(zhì)為等靜壓石墨或氧化鋁陶瓷。
3.如權(quán)利要求1所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝,其特征是,連接桿的長(zhǎng)度為10~100mm;
或,連接桿的壁厚為2~10mm。
4.如權(quán)利要求1所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝,其特征是,上坩堝底部設(shè)置支撐環(huán),支撐環(huán)支撐內(nèi)堝;
或,連接桿與上坩堝、下坩堝,三者保持同心;
或,內(nèi)堝與上坩堝同心;
或,連接桿與上坩堝的連接方式、連接桿與下坩堝的連接方式均為螺紋連接。
5.如權(quán)利要求1所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝,其特征是,內(nèi)堝與上坩堝內(nèi)壁之間形成縫隙的寬度為0.1~0.5mm。
6.一種p型SiC單晶生長(zhǎng)的方法,其特征是,提供權(quán)利要求1~5任一所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝,包括如下步驟:
將摻雜劑壓塊獲得摻雜劑塊,將摻雜劑塊固定放置在下坩堝內(nèi);
將SiC粉料放置在SiC粉料放置區(qū);
將SiC籽晶放置在上坩堝頂部;
將添加完物料后的p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝置于單晶生長(zhǎng)爐中進(jìn)行單晶生長(zhǎng);
單晶生長(zhǎng)過(guò)程中,通入保護(hù)氣體,壓強(qiáng)為1~50mbar,上坩堝上蓋的溫度為2100~2500℃,下坩堝內(nèi)溫度為1000~2300℃,上坩堝上蓋的溫度高于下坩堝內(nèi)的溫度,單晶生長(zhǎng)時(shí)間為30~200h。
7.如權(quán)利要求6所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的方法,其特征是,摻雜劑的壓塊壓強(qiáng)不低于10MPa;
或,所述摻雜劑包括不限于Al4C3、Al2O3、AlN或其組合;
或,將坩堝置于單晶生長(zhǎng)爐中,對(duì)生長(zhǎng)室進(jìn)行抽真空至0.1Pa以下,然后加熱并通入保護(hù)氣體。
8.如權(quán)利要求6所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的方法,其特征是,所述保護(hù)氣為Ar、H2、He或其任意組合;
或,單晶生長(zhǎng)爐的加熱系統(tǒng)為單個(gè)感應(yīng)線圈或多個(gè)感應(yīng)線圈,優(yōu)選為單個(gè)感應(yīng)線圈;
或,將p型SiC單晶進(jìn)行切磨拋加工獲得p型SiC單晶襯底。
9.一種p型SiC單晶,其特征是,由權(quán)利要求6~8任一所述的p型SiC單晶生長(zhǎng)的方法獲得。
10.一種p型SiC單晶生長(zhǎng)的坩堝在制備其他摻雜SiC單晶中的應(yīng)用,所述其他摻雜SiC單晶為除p型SiC單晶的其他摻雜SiC單晶。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于山東大學(xué),未經(jīng)山東大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310026577.9/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





