[發明專利]一種LED雙面教育機背光套件低溫性能檢測裝置

在審

• 申請號: 202310023738.9
• 申請日: 2023-01-09
• 公開（公告）號: CN115942716A
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 李智開
• 申請（專利權）人: 深圳市深汕特別合作區虹菱電器有限公司
• 主分類號: H05K7/20
• 分類號: H05K7/20
• 代理公司: 濟南鼎信專利商標代理事務所(普通合伙) 37245
• 代理人: 陳珊

本發明公開了一種LED雙面教育機背光套件低溫性能檢測裝置，屬于電子產品檢測技術領域，包括冷卻隔箱、沿著豎向均勻間隔布置在冷卻隔箱內的多組制冷組件，冷卻隔箱內設置有用于夾持背光套件的夾持組件；冷卻隔箱的底部設置有用于對背光套件加熱的加熱組件，冷卻隔箱的頂部設置有豎向位移驅動裝置，豎向位移驅動裝置的輸出端連接至夾持組件，豎向位移驅動裝置能夠帶動夾持組件沿著豎向位移以經過多組制冷組件，同時夾持組件能夠帶動背光套件相對于加熱組件相互遠離或者靠近。本發明裝置在方便檢測的同時，可以讓背光套件的環境溫度溫和式地改變，避免因為上述問題對檢測結果造成影響，可以有效地提高裝置的檢測效率。

技術領域

本發明屬于電子產品檢測技術領域，具體涉及一種LED雙面教育機背光套件低溫性能檢測裝置。

背景技術

隨著經濟的發展，社會進入信息化時代，在現代化的教育中，LED雙面教育機起到了舉重輕重的作用，LED雙面教育機更新換代的速度快，質量也不斷提到提升，因為制造業水平越來越高，在對LED雙面教育機進行制作時，需要對LED雙面教育機背光套件進行低溫性能檢測。現有的背光套件的低溫性能檢測方式通常是將其加熱到工作溫度，然后直接放置到低溫的檢測隔間內進行檢測，由于環境溫度的急劇變化，該種方式容易引起背光套件的表面開裂等問題，從而影響檢測結果。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種LED雙面教育機背光套件低溫性能檢測裝置，方便檢測的同時，可以讓背光套件的環境溫度溫和式地改變，避免因為上述問題對檢測結果造成影響，可以有效地提高裝置的檢測效率。

為達到上述目的，本發明提供如下技術方案：

本發明一種LED雙面教育機背光套件低溫性能檢測裝置，包括冷卻隔箱、沿著豎向均勻間隔布置在所述冷卻隔箱內的多組制冷組件，多組制冷組件同時對冷卻隔箱的內腔進行制冷，單組制冷組件能夠對位于該平面內的背光組件單獨進行制冷，所述冷卻隔箱內設置有用于夾持所述背光套件的夾持組件；所述冷卻隔箱的底部設置有用于對背光套件加熱的加熱組件，所述冷卻隔箱的頂部設置有豎向位移驅動裝置，所述豎向位移驅動裝置的輸出端連接至夾持組件，所述豎向位移驅動裝置能夠帶動夾持組件沿著豎向位移以經過多組所述制冷組件，同時所述夾持組件能夠帶動背光套件相對于加熱組件相互遠離或者靠近。

本發明的有益效果在于：

本發明通過設置加熱組件，可以對背光套件進行加熱，使其滿足測試時候的工作溫度，夾持組件能夠帶動背光套件相對于加熱組件相互遠離或者靠近，通過邊烘烤、邊降溫的方式實現了溫度的梯度式變化，從而讓背光套件的環境溫度溫和式地改變，避免因為溫度的急劇變化對檢測結果造成影響，可以有效地提高裝置的檢測效率。

本發明裝置中，通過設置多組制冷組件，多組制冷組件同時對冷卻隔箱的內腔進行制冷，并且在背光套件移動到預設高度時，通過單組制冷組件能夠對位于該平面內的背光組件單獨進行制冷，無需整體對冷卻隔箱進行制冷，大大縮短了制冷的時間，可以實現溫度的快速、準確控制，可以進一步提高檢測效率。

本發明的其他優點、目標和特征將在隨后的說明書中進行闡述，并且在某種程度上對本領域技術人員而言是顯而易見的，或者本領域技術人員可以從本發明的實踐中得到教導。本發明的目標和其他優點可以通過下面的說明書來實現和獲得。

附圖說明

為了使本發明的目的、技術方案和有益效果更加清楚，本發明提供如下附圖進行說明：

圖1為本發明裝置的結構示意圖；

圖2為圖1在A處的放大圖；

圖3為4個制冷組件組合的示意圖；

圖4為制冷組件的結構示意圖；

圖5為加熱組件的結構示意圖；

圖6為圖5在B處的放大圖；