[發(fā)明專利]用于空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310022405.4 | 申請(qǐng)日: | 2023-01-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116124645A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王海鵬;劉丁楠;胡亮;鄭晨輝;李明星;魏炳波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西北工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N9/00 | 分類號(hào): | G01N9/00;G06T7/62;G06T7/90;G06T7/136;G06T7/194;G06T7/13;G06F17/11;G06F17/16 |
| 代理公司: | 西安凱多思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61290 | 代理人: | 王鮮凱 |
| 地址: | 71007*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 空間站 靜電 懸浮 狀態(tài) 液態(tài) 合金 密度 測(cè)定 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種用于空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定方法,在得到空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金照片后,首先將照片轉(zhuǎn)化為像素矩陣并進(jìn)行灰度化處理,之后通過(guò)矩陣運(yùn)算扣除照片背景。進(jìn)一步地,計(jì)算得到像素矩陣最佳二值化灰度閾值,并對(duì)像素矩陣進(jìn)行二值化處理。然后通過(guò)矩陣運(yùn)算獲取像素矩陣中所有邊界坐標(biāo),并對(duì)區(qū)分每一個(gè)連通邊界。排除亮斑邊界后,得到液態(tài)合金邊界坐標(biāo)及中心坐標(biāo)。然后利用多階勒讓德方程擬合液態(tài)合金邊界坐標(biāo)得到邊界方程。最后對(duì)液態(tài)合金邊界方程進(jìn)行旋轉(zhuǎn)積分得到液態(tài)合金體積,進(jìn)而得到液態(tài)合金密度值。本發(fā)明僅通過(guò)液態(tài)合金照片處理即可得到其密度值,可用于空間站靜電懸浮無(wú)容器液態(tài)合金密度的測(cè)定。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于合金密度測(cè)定方法,涉及一種用于空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定方法。
背景技術(shù)
文獻(xiàn)1“Zhou?Z,Mukherjee?S,Rhim?W?K.Measurement?of?thermophysicalproperties?of?molten?silicon?using?an?upgraded?electrostatic?levitator[J].Journal?of?Crystal?Growth,2003,257(3-4):350-358.”公開(kāi)了一種基于地面靜電懸浮液態(tài)合金密度的測(cè)定方法。其采用直徑小于2毫米的液態(tài)合金進(jìn)行靜電懸浮實(shí)驗(yàn),對(duì)其拍照測(cè)定密度。但由于其液態(tài)合金尺寸較小且受地面重力場(chǎng)影響,液態(tài)合金球形度較差,降低了密度測(cè)定的準(zhǔn)確性。而在空間站微重力環(huán)境中,液態(tài)合金在表面張力的作用下呈現(xiàn)完美的球形;同時(shí)相較于地面靜電懸浮液態(tài)合金尺寸更大;且懸浮電壓更小,液態(tài)合金受靜電場(chǎng)引起的變形更小。因此,空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定更加準(zhǔn)確。
文獻(xiàn)2“B,Paul?Franois?Paradis?A,et?al.Materials?propertiesmeasurements?and?particle?beam?interactions?studies?using?electrostaticlevitation[J].Materials?Science?and?Engineering:R:Reports,2014,76(feb.):1-53.”公開(kāi)了一種增加背景光源的靜電懸浮密度測(cè)定方法。其采用高亮度單色背景光源、濾波片和CMOS相機(jī)進(jìn)行采集得到清晰的液態(tài)合金輪廓照片。但該方法需要高亮度單色背景大功率光源、濾波片每次實(shí)驗(yàn)都需要安裝和拆卸,尤其是CMOS相機(jī)視野較小以致于懸浮液態(tài)合金易逃出拍照視野,以及CMOS相機(jī)需要實(shí)時(shí)調(diào)整對(duì)焦。這樣復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)方法不適用于在空間站中無(wú)航天員參與的靜電懸浮無(wú)容器液態(tài)合金密度的測(cè)定。
中國(guó)空間站核心艙所搭載的無(wú)容器材料實(shí)驗(yàn)柜中配備的靜電懸浮實(shí)驗(yàn)裝置已正式投入運(yùn)行,可用于無(wú)容器液態(tài)合金的密度測(cè)定。相較于地面靜電懸浮實(shí)驗(yàn)密度測(cè)定,空間站靜電懸浮由于懸浮液態(tài)合金尺寸更大、球形度更好、受靜電場(chǎng)影響更小,具備準(zhǔn)確測(cè)定液態(tài)合金的硬件基礎(chǔ)條件。然而,受空間站無(wú)容器實(shí)驗(yàn)柜尺寸限制和高度集成布局的影響,拍攝得到的照片含腔體、液態(tài)合金表面有反射造成的亮斑,照片中液態(tài)合金的準(zhǔn)確邊界無(wú)法直接得到,現(xiàn)有地面靜電懸浮密度測(cè)定照片處理方法不再適用于空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定。并且,由于靜電懸浮實(shí)驗(yàn)裝置搭載在空間站的特殊原因,無(wú)法輕易改變以及實(shí)時(shí)調(diào)整實(shí)驗(yàn)裝置,同時(shí)空間站實(shí)驗(yàn)時(shí)間緊迫且寶貴。因此,發(fā)明適用于空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定方法尤為重要。
發(fā)明內(nèi)容
要解決的技術(shù)問(wèn)題
為了避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,本發(fā)明提出一種用于空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定方法,克服現(xiàn)有方法的局限性,解決現(xiàn)有難題。
技術(shù)方案
一種用于空間站中靜電懸浮狀態(tài)下液態(tài)合金密度的測(cè)定方法,其特征在于步驟如下:
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