[發明專利]量子密鑰分發器件安全參數的定量刻畫及安全等級分級方法與裝置

在審

• 申請號: 202310022012.3
• 申請日: 2023-01-07
• 公開（公告）號: CN116248273A
• 公開（公告）日: 2023-06-09
• 發明（設計）人: 李宏偉;鮑皖蘇;汪洋;郝辰鵬;陸宜飛;周雨;李家驥;江木生;周硯揚;楊曉亮;周淳
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍戰略支援部隊信息工程大學
• 主分類號: H04L9/08
• 分類號: H04L9/08;H04B10/70
• 代理公司: 鄭州大通專利商標代理有限公司 41111
• 代理人: 劉瑩瑩

1.量子密鑰分發器件安全參數的定量刻畫方法，所述量子密鑰分發器件包括光源模塊、編解碼模塊和探測模塊，其特征在于，利用弱隨機性模型定義量子密鑰分發器件的安全參數集合；所述安全參數集合包括弱隨機安全參數、光強漲落安全參數和編解碼誤差安全參數；

其中，所述弱隨機安全參數包括發送端的編碼弱隨機安全參數ε_s1、發送端的基矢弱隨機安全參數ε_s2、發送端的誘騙態弱隨機安全參數ε_d和接收端的基矢弱隨機安全參數ε_r；所述光強漲落安全參數指發送端的光強漲落安全參數ε_i；所述編解碼誤差安全參數包括發送端的調制誤差安全參數ε_en和接收端的解調誤差安全參數ε_de。

2.量子密鑰分發器件的安全等級分級方法，其特征在于，包括：

步驟1：采用如權利要求1所述的量子密鑰分發器件安全參數的定量刻畫方法，獲取實際QKD系統的安全參數集合ε，記作ε＝(ε_s1,ε_s2,ε_d,ε_r,ε_i,ε_en,ε_de)；并獲取對應的理想安全等級要求安全參數集合δ，記作δ＝(δ_s1,δ_s2,δ_d,δ_r,δ_i,δ_en,δ_de)；其中，QKD表示量子密鑰分發；

步驟2：根據安全參數集合ε和安全參數集合δ，比較所述實際QKD系統中光源模塊的實際安全參數和理想安全參數，根據比較結果判斷所述光源模塊是否符合理想安全等級要求：

步驟3：根據安全參數集合ε和安全參數集合δ，比較所述實際QKD系統中編解碼模塊的實際安全參數和理想安全參數，根據比較結果判斷所述編解碼模塊是否符合理想安全等級要求；

步驟4：根據安全參數集合ε和安全參數集合δ，比較所述實際QKD系統中探測模塊的實際安全參數和理想安全參數，根據比較結果判斷所述探測模塊是否符合理想安全等級要求；

步驟5：若光源模塊、編解碼模塊和探測模塊均符合理想安全等級要求，則根據安全參數集合δ確定所述實際QKD系統的器件安全等級。

3.根據權利要求2所述的量子密鑰分發器件的安全等級分級方法，其特征在于，步驟2具體包括：

步驟2.1：比較實際的誘騙態弱隨機安全參數ε_d和理想的誘騙態弱隨機安全參數δ_d，若滿足ε_dδ_d，則進入步驟2.2；若不滿足，則認為光源模塊的安全參數不符合理想安全等級要求，進入步驟3；

步驟2.2：比較實際的光強漲落安全參數ε_i和理想的光強漲落安全參數δ_i，若滿足ε_iδ_i，則進入步驟2.3；若不滿足，則認為光源模塊的安全參數不符合理想安全等級要求，進入步驟3；

步驟2.3：比較實際的編碼弱隨機安全參數ε_s1和理想的編碼弱隨機安全參數δ_s1，若滿足ε_s1δ_s1，則認為光源模塊的安全參數符合理想安全等級要求，進入步驟3；若不滿足，則認為光源模塊的安全參數不符合理想安全等級要求，進入步驟3。