[實用新型]一種成品釉質量檢測裝置

有效

• 申請號: 202223553616.0
• 申請日: 2022-12-30
• 公開（公告）號: CN219245343U
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 謝鳳儀;謝海明
• 申請（專利權）人: 佛山市金言盛新型材料有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/88
• 代理公司: 佛山市海融科創知識產權代理事務所(普通合伙) 44377
• 代理人: 黃家豪

本實用新型公開了一種成品釉質量檢測裝置，包括暗箱，所述暗箱的一側設置有燈箱，所述燈箱的內部設置有打樣燈，所述打樣燈上設置有位于不同平面上的燈組，所述燈組由主燈、左副燈和右副燈組成，所述暗箱的內部遠離所述打樣燈的一側設置有反射鏡，所述反射鏡上設置有多個折痕，所述反射鏡和所述打樣燈之間設置有擋光器。本實用新型公開的成品釉質量檢測裝置具有方便檢測釉面質量，操作簡單，檢測直觀的技術效果，通過設置的暗箱提供一個規避外界自然光影響的檢測環境，通過設置的打樣燈根據實際檢測需求，提供不同入射角度的光源，且打樣燈可以實時調節，在檢測時便利性和準確性大大提高。

技術領域

本實用新型涉及釉質量檢測領域，尤其涉及一種成品釉質量檢測裝置。

背景技術

在傳統的標形學鑒定中，對陶瓷的釉質鑒定基本是依靠人眼，最多也只是利用放大鏡對其進行觀察。人們通過釉面的顏色、質地、光亮度、透明度以及釉下氣泡的多少大小疏密等作出分析，并得出結論。這種鑒定結論往往因人而異、主觀多于客觀，未知多于已知。但釉面的光滑度，如是否存在氣泡導致的凸起、凹陷，可以客觀的觀察到，也是鑒定釉面質量的主要檢測內容。

但是傳統的成品釉質量檢測過于麻煩，不夠直觀；例如：釉面在制作時，因氣泡導致的凹陷和凸起較小時，需要依靠放大鏡等工具進行檢測，檢測手法復雜，耗時長，且檢測需要一定的經驗。

實用新型內容

本實用新型公開一種成品釉質量檢測裝置，旨在解決傳統的成品釉質量檢測過于麻煩，不夠直觀的技術問題。

為了實現上述目的，本實用新型采用了如下技術方案：

一種成品釉質量檢測裝置，包括暗箱，所述暗箱的一側設置有燈箱，所述燈箱的內部設置有打樣燈，所述打樣燈上設置有位于不同平面上的燈組，所述燈組由主燈、左副燈和右副燈組成，所述暗箱的內部遠離所述打樣燈的一側設置有反射鏡，所述反射鏡上設置有多個折痕，所述反射鏡和所述打樣燈之間設置有擋光器。

通過設置的暗箱提供一個規避外界自然光影響的檢測環境，通過設置的打樣燈根據實際檢測需求，提供不同入射角度的光源，且打樣燈可以實時調節，在檢測時便利性和準確性大大提高，打樣燈上設置的主燈、左副燈和右副燈單獨控制，且燈組設置在不同平面，只需較小的調節幅度配合燈組的開和關即可得到合適的入射光線，通過設置的擋光器規避掉多余的光線，將投影聚集在需要檢測的釉面位置，通過設置的反射鏡放大投影，并將釉面投影反射到觀察位置，反射鏡能夠轉動和彎折調節，用于調整投影放大倍數和反射位置。

在一個優選的方案中，所述擋光器由主體架、設置于所述主體架上的多個擋光塊以及設置于多個所述擋光塊一側的軟條組成，多個所述擋光塊的一側外壁與所述軟條的一側外壁粘接，所述軟條的頂部和底部與所述主體架連接，多個所述擋光塊通過設置的串桿滑動連接，所述主體架的底部通過設置的橫向調節塊和縱向調節塊與所述暗箱的內壁底部連接。

設置在反射鏡和打樣燈之間的擋光器用于遮擋掉打樣燈投射出的多余光線，打樣燈設置在固樣器的一側，且距離固樣器的位置很近，多個擋光塊用于調整軟條，使軟條可以貼合待檢測物的表面，用于達到精準遮光的效果，擋光塊調節后的位置能夠固定，以此固定軟條的位置，調整后的軟條與待檢測物表面各處的距離相同，產生間距均勻的狹縫。

在一個優選的方案中，所述打樣燈由多個燈塊組成，所述燈塊上均設置有三個位于不同平面的燈面，所述燈組設置于三個所述燈面上，多個所述燈塊之間活動連接，所述打樣燈的頂部設置有用于控制所述打樣燈轉動和彎折控制把B。

通過設置的多個燈塊組成打樣燈，多個燈塊之間活動連接，使得組成的打樣燈能夠彎折，如此便可以產生更多角度的入射光源，通過設置的控制把B轉動和彎折打樣燈，控制方法簡單，且能夠在檢測時實時調控，適用于新手使用。