[實用新型]一種用于電子元件硫化試驗裝置

有效

• 申請號: 202223500378.7
• 申請日: 2022-12-27
• 公開（公告）號: CN219142777U
• 公開（公告）日: 2023-06-06
• 發明（設計）人: 林澤清;嚴勇;唐加能;蔡雄雄;林碧海
• 申請（專利權）人: 福建毫米電子有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 泉州君典專利代理事務所(普通合伙) 35239
• 代理人: 陳曉艷

本實用新型涉及硫化試驗領域，特別是一種用于電子元件硫化試驗裝置，包括試驗容器、支架和底座，所述支架置于試驗容器內，所述底座可拆卸設置在支架上，所述支架包括多個安裝架和支撐柱、所述多個安裝架沿豎直方向平行間隔布置在支撐柱上使支架形成多層的安裝空間，所述底座設置在安裝架上并位于安裝空間內，所述底座上形成有多個卡槽，所述卡槽沿著左右貫通底座且多個所述卡槽沿底座的延伸方向間隔布置。本實用新型通過支架固定底座，并通過底座上的卡槽放置待試驗的測試小板，確保測試小板放置的穩定性，提高試驗效率，保證試驗結果的準確性。

技術領域

本實用新型涉及硫化試驗領域，特別是一種用于電子元件硫化試驗裝置。

背景技術

抗硫化片式厚膜固定電阻器在生產制造過程中，需要對產品進行抗硫化的試驗，確定電阻器在經歷硫粉揮發硫化相對變化程度，以保證產品的質量一致性及環境匹配性。且硫化實驗需要承受一定的高溫，并生成腐蝕性性氣體，各個試驗部件需要具有一定耐高溫和耐腐蝕性。舊有試驗方法是將產品焊接到測試小板上，再將測試小板放置在玻璃試驗器皿鏤空板上。此種試驗方法存在試驗效果不充分、浪費空間多、操作不便等缺點。且在電阻器進行硫化試驗過程中，需要移動玻璃試驗器皿，測試小板放置在玻璃試驗試驗器皿內不好固定，容易造成測試小板移動，造成測試小板疊加在一起，影響試驗的可靠性及結果；且測試小板之間摩擦，容易產品發生脫落、劃傷風險變大、接觸不良，導致試驗失效，從而造成試驗失效風險變大。每次試驗失效，需要重復進行，影響了試驗效率。所以，傳統方法存在極大的缺陷。

實用新型內容

本實用新型的主要目的是克服現有技術的缺點，提供一種通過支架固定底座，并通過底座上的卡槽放置待試驗的測試小板，確保測試小板放置的穩定性，提高試驗效率，保證試驗結果的準確性的用于電子元件硫化試驗裝置。

本實用新型采用如下技術方案：

一種用于電子元件硫化試驗裝置，包括試驗容器、支架和底座，所述支架置于試驗容器內，所述底座可拆卸設置在支架上，所述支架包括多個安裝架和支撐柱、所述多個安裝架沿豎直方向平行間隔布置在支撐柱上使支架形成多層的安裝空間，所述底座設置在安裝架上并位于安裝空間內，所述底座上形成有多個卡槽，所述卡槽沿著左右貫通底座且多個所述卡槽沿底座的延伸方向間隔布置。

進一步地，所述支架包括兩個安裝架、多根支撐柱和一個頂架，兩所述安裝架沿豎直方向平行間隔，多根所述支撐柱分別設置在所述安裝架的四個角落處用于連接支撐所述安裝架，所述頂架設置在支撐柱的頂端用于保持支架穩定。

進一步地，所述支撐柱包括柱體、連接螺柱和連接螺孔，所述連接螺柱設置在柱體一端，所述連接螺柱外周面上形成有外螺紋，所述連接螺孔開設在柱體的另一端，所述連接螺孔內設置有內螺紋。

進一步地，所述柱體的橫截面為六邊形。

進一步地，所述安裝架上平行間隔設置有多個支撐桿，所述支撐桿上開設有安裝螺孔，所述底座上開設有與安裝螺孔相對應的安裝通孔，所述底座通過螺栓穿過安裝通孔并與安裝螺孔螺紋連接固定在支撐桿上。

進一步地，所述試驗容器為玻璃材質。

進一步地，所述底座為聚四氟乙烯材質。

進一步地，所述支架為不銹鋼材質，且表面進行鈍化處理，使所述支架的表面形成一層鈍化膜。

由上述對本實用新型的描述可知，與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

第一、通過支架和可拆卸設置在支架上的底座，可穩定地放置待試驗的測試小板，使測試小板在試驗中不易跑動，減少與其它物體摩擦的風險，提高試驗效率，確保試驗結果的可靠性。

第二、試驗為非破壞性試驗，裝置可以重復使用，支架通過頂架穩定結構，方便支架取出和放入試驗容器內，且通過在柱體兩側的連接螺柱和連接螺孔，使支撐柱可以首尾連接，方便支架的組裝和拆卸。