[實用新型]射頻S參數測量裝置

有效

• 申請號: 202223436979.6
• 申請日: 2022-12-21
• 公開（公告）號: CN219162300U
• 公開（公告）日: 2023-06-09
• 發明（設計）人: 王建今;蔡義承;鐘侑福;田慶誠
• 申請（專利權）人: 矽格股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京睿派知識產權代理有限公司 11597
• 代理人: 劉鋒

本實用新型公開了一種射頻S參數測量裝置，其包括向量網絡分析儀、升降頻裝置與信道切換裝置，升降頻裝置耦接向量網絡分析儀與信道切換裝置。信道切換裝置傳送高頻向量信號至待測物，待測物反射高頻向量信號以形成高頻反射向量信號，高頻向量信號透射待測物以形成高頻透射向量信號。升降頻裝置接收高頻向量信號、高頻反射向量信號與高頻透射向量信號，以此產生低頻向量信號、低頻反射向量信號與低頻透射向量信號。向量網絡分析儀接收并分析低頻向量信號、低頻反射向量信號與低頻透射向量信號，以得到S參數測量值。

技術領域

本實用新型有涉及一種測量裝置，尤指一種射頻S參數測量裝置。

背景技術

高頻電路的設計中使用的散射參數，即所謂的S參數(Scattering?Parameters)進行電路的設計，因為在高頻的領域中甚難定義出絕對的開路或短路，且在網絡中亦不易測量到總電壓、電流。同時有些有源組件如晶體管、二極管等在開路或短路的電路環境中亦無法穩定工作。因此必須使用高頻較易測量的入射與反射功率來定義電路的參數，即所謂的S參數。

一般S參數測量的儀器為向量網絡分析儀(Vector?network?analyzer,VNA)，但在射頻集成電路(IC)產線中，必須要測量其它射頻(RF)測試項目，如一分貝壓縮點輸出功率(Pldb)、頻譜屏蔽(spectral?mask)、誤差向量幅度(EVM)及相鄰通道功率比(ACPR)，此為向量網絡分析儀無法測量的部分。此外，向量網絡分析儀雖然能支持毫米波頻段的S參數測量，但價格昂貴。對于向量網絡分析儀無法測量的部分，可用向量信號產生器(Vectorsignal?generator,VSG)和向量信號分析器(vector?signal?analyzer,VSA)進行測量。然而，向量信號產生器與向量信號分析器只能支持6十億赫茲(GHz)以下的頻率，而無法支持毫米波頻段，即28～39GHz的S參數測量。

因此，本實用新型在針對上述的困擾，提出一種射頻S參數測量裝置，以解決習知所產生的問題。

實用新型內容

本實用新型的主要目的，在于提供一種射頻S參數測量裝置，其以低成本測量高頻的S參數，例如毫米波頻段的S參數。

在本實用新型的一實施例中，一種射頻S參數測量裝置耦接一待測物，射頻S參數測量裝置包括一向量網絡分析儀、一升降頻裝置與一信道切換裝置。向量網絡分析儀用以產生一低頻向量信號。升降頻裝置耦接向量網絡分析儀，其中升降頻裝置用以接收低頻向量信號與高頻信號，并利用低頻向量信號與高頻信號產生一高頻向量信號。信道切換裝置具有一第一端口與一第二端口，待測物耦接于第一端口與第二端口之間，信道切換裝置耦接升降頻裝置。信道切換裝置用以傳送高頻向量信號至待測物，待測物反射高頻向量信號以形成高頻反射向量信號，高頻向量信號透射待測物以形成高頻透射向量信號。升降頻裝置用以接收高頻向量信號、高頻反射向量信號與高頻透射向量信號，以利用高頻向量信號、高頻反射向量信號與高頻透射向量信號產生低頻向量信號、低頻反射向量信號與低頻透射向量信號。向量網絡分析儀用以接收并分析低頻向量信號、低頻反射向量信號與低頻透射向量信號，以得到S參數測量值。

在本實用新型的一實施例中，射頻S參數測量裝置還包括一高頻信號產生器與一信號分配器。高頻信號產生器用以產生高頻信號，信號分配器耦接高頻信號產生器與升降頻裝置。信號分配器用以接收并分配高頻信號至升降頻裝置。