[實(shí)用新型]一種芯片測(cè)試機(jī)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202223301921.0 | 申請(qǐng)日: | 2022-12-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN219039281U | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韋錦景 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中山市迅科達(dá)智能科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 深圳市精英創(chuàng)新知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44740 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 528400 廣東省中山市南*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 芯片 測(cè)試 機(jī)構(gòu) | ||
1.一種芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,包括:固定測(cè)試箱和測(cè)試插座,所述固定測(cè)試箱設(shè)有公頭和母座中的一個(gè),所述測(cè)試插座設(shè)有所述公頭和所述母座中的另一個(gè),所述公頭和母座可拆卸連接;
其中,所述固定測(cè)試箱包括:箱體和設(shè)于所述箱體底部的底板,所述箱體內(nèi)設(shè)有板卡模組和網(wǎng)絡(luò)模塊,所述板卡模組和所述網(wǎng)絡(luò)模塊信號(hào)連接;所述箱體頂部設(shè)有通孔,所述板卡模組與所述箱體頂部固接,所述公頭和母座中的一個(gè)內(nèi)嵌于所述通孔內(nèi)并連接于所述板卡模組的轉(zhuǎn)接板上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述箱體的一側(cè)面設(shè)有外接端口,所述板卡模組和所述網(wǎng)絡(luò)模塊皆與所述外接端口電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述測(cè)試插座設(shè)置有多個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述網(wǎng)絡(luò)模塊包括:多個(gè)燒錄器和多個(gè)路由器,所述燒錄器和所述板卡模組信號(hào)連接,所述路由器和所述板卡模組信號(hào)連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述測(cè)試插座包括:測(cè)試插座底座、蓋子、芯片底座、測(cè)試插座針座以及轉(zhuǎn)接電路板,所述測(cè)試插座底座與所述蓋子轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述芯片底座和所述測(cè)試插座針座位于所述測(cè)試插座底座內(nèi),所述芯片底座位于所述測(cè)試插座針座的上方,所述測(cè)試插座底座的底部與所述轉(zhuǎn)接電路板固接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述測(cè)試插座針座內(nèi)設(shè)有多個(gè)探針,所述探針一端與芯片引腳連接,所述探針另一端與所述轉(zhuǎn)接電路板連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述轉(zhuǎn)接電路板的一面設(shè)有針點(diǎn)焊盤(pán),所述轉(zhuǎn)接電路板通過(guò)所述針點(diǎn)焊盤(pán)與所述探針連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述公頭和母座中的另一個(gè)設(shè)置于所述轉(zhuǎn)接電路板的另一面。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述蓋子的一側(cè)設(shè)有卡扣,所述測(cè)試插座底座對(duì)應(yīng)的一側(cè)設(shè)置有與所述卡扣卡合的卡槽。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的芯片測(cè)試機(jī)構(gòu),其特征在于,所述公頭和母座所組成的連接器的型號(hào)為B2B。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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