[實(shí)用新型]一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202223154060.8
• 申請日: 2022-11-25
• 公開（公告）號: CN218896053U
• 公開（公告）日: 2023-04-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 仇澤軍;李桂平;董海飛;周芳青;陳誠;唐國華;陳義
• 申請（專利權(quán)）人: 東莞市德普特電子有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01;B25B11/00
• 代理公司: 東莞市華南專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44215
• 代理人: 黃焯輝

1.一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：包括底座以及滑動(dòng)設(shè)置于所述底座上的滑座，所述底座上的兩側(cè)均設(shè)置有縱向?qū)к?，所述滑座的兩?cè)設(shè)置有滑塊，兩個(gè)滑塊分別與兩個(gè)縱向?qū)к壔瑒?dòng)連接，所述滑座上設(shè)置有橫向?qū)к?，所述底座的一端裝設(shè)有定位載臺，所述定位載臺上設(shè)置有多個(gè)定位銷和多個(gè)真空吸附孔，所述橫向?qū)к壣匣瑒?dòng)設(shè)置有兩個(gè)側(cè)載臺，兩個(gè)側(cè)載臺呈正對設(shè)置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：多個(gè)所述真空吸附孔呈一排式等間隔設(shè)置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：多個(gè)所述定位銷呈一排式等間隔設(shè)置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：所述橫向?qū)к壣匣瑒?dòng)設(shè)置有兩個(gè)橫移塊，所述側(cè)載臺與所述橫移塊一一對應(yīng)，所述側(cè)載臺可拆卸連接于所述橫移塊。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：所述側(cè)載臺的前端設(shè)置有支撐斜面。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：所述側(cè)載臺貫穿設(shè)置有若干第一連接孔，所述橫移塊設(shè)置有若干與所述第一連接孔對應(yīng)的第二連接孔。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：所述縱向?qū)к壣线€滑動(dòng)設(shè)置有兩個(gè)第一鎖緊塊，兩個(gè)第一鎖緊塊與滑塊的兩端抵緊；所述第一鎖緊塊的兩側(cè)均貫穿設(shè)置有第一鎖緊孔，所述第一鎖緊孔內(nèi)裝配有第一鎖緊螺絲。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI檢測設(shè)備用的通用治具，其特征在于：所述橫向?qū)к壣线€滑動(dòng)設(shè)置有四個(gè)第二鎖緊塊，每兩個(gè)第二鎖緊塊為一組，同一組的兩個(gè)第二鎖緊塊分別位于橫移塊的兩端，兩個(gè)第二鎖緊塊與橫移塊抵緊；所述第二鎖緊塊的兩側(cè)均貫穿設(shè)置有第二鎖緊孔，所述第二鎖緊孔內(nèi)裝配有第二鎖緊螺絲。