[實用新型]一種由單極子陣列天線構成的混響室射頻測試系統

有效

• 申請號: 202223119977.4
• 申請日: 2022-11-21
• 公開（公告）號: CN219144502U
• 公開（公告）日: 2023-06-06
• 發明（設計）人: 周福蘭;聶晶;周萬文;李虎權;伍連保
• 申請（專利權）人: 深圳市佳晨科技有限公司
• 主分類號: H01Q21/00
• 分類號: H01Q21/00;H01Q3/26;H04B17/00
• 代理公司: 深圳市中科創為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 楊春;徐方星

本實用新型公開一種由單極子陣列天線構成的混響室射頻測試系統，包括：箱體、設置在所述箱體內的單極子陣列單元、與所述單極子陣列單元電連接的射頻開關；所述單極子陣列單元包括：若干垂直極化單極子天線、若干水平極化單極子天線，所述的若干個垂直極化單極子天線與所述的若干個水平極化單極子天線交替設置于所述箱體的內壁上；所述射頻開關上設置有若干第一輸入輸出通道和若干第二輸入輸出通道，所述單極子陣列單元通過所述第一輸入輸出通道與所述射頻開關連接。本實用新型可獨立激勵不同位置的垂直極化單極子天線和/或水平極化單極子天線，在改變激勵方式時均會提供更多的混響測試模式，提高混響測試的精度，保證測試效果更好。

技術領域

本實用新型涉及射頻測試設備領域，尤其涉及一種由單極子陣列天線構成的混響室射頻測試系統。

背景技術

與通信產品相關的各種基礎設施如基站、天線陣列、智能家居、手機、手環、等產品，都需要經過嚴格的電磁通信測試。電磁通訊測試裝置有微波暗室和混響室兩種；其中，微波暗室是模擬電磁波在自由空間內傳播，而被測產品設置在電磁波的傳播方向上，被測產品通過自身天線感應電磁場來完成測試，測試過程中無環境的反射電磁波對測試的影響，因此，微波暗室是由屏蔽殼體(其殼體上貼上滿足測試的角錐吸波材料)、轉臺、測量天線等構成；混響室可模擬現實環境各種無線通信信道，產品測試時是處于一個復雜的測試環境中，現實的環境也是一個處于各種電磁信號傳播的環境，因此混響室內就會有各種電磁波反射，這樣混響室可由一個金屬殼體及配套的攪拌器和測量天線等構成，此外，殼體上不需要貼吸波材料，且殼體內表面對電磁波要具有極高的反射性，減少電磁波在金屬壁上的損耗。

微波暗室有比較干凈的電磁波測試環境，現實中的環境，或多或少都會有其他電磁波對被測產品的影響，因此適合研究產品本身的天線性能，因此微波暗室一般適用于研發測試，且通常是單個產品測試，不適合產品批量生產；一般生產線上通過模擬微波暗室的OTA測試，所謂的耦合測試，存在尋找和調整被測產品的測試位置等問題，不利于生產測試及數據分析。混響室普遍采用機械攪拌的方式，機械攪拌器的攪拌葉片是異形的，增加加工難度，并且攪拌器一般尺寸比較大，同時也需要配備轉臺等設備，這樣既需要比較大混響室的腔體，又需要控制機械攪拌的運行狀態，這樣無疑是增加混響的測試成本。

因此，現有技術存在缺陷，需要改進。

實用新型內容

本實用新型的目的是克服現有技術的不足，提供一種由單極子陣列天線構成的混響室射頻測試系統，混響室內需要設置機械攪拌裝置，導致混響室體積較大，測試難度大、成本高的問題。

本實用新型的技術方案如下：一種由單極子陣列天線構成的混響室射頻測試系統，包括：箱體、設置在所述箱體內的單極子陣列單元、與所述單極子陣列單元電連接的射頻開關；所述單極子陣列單元包括：若干垂直極化單極子天線、若干水平極化單極子天線，所述的若干個垂直極化單極子天線與所述的若干個水平極化單極子天線交替設置于所述箱體的內壁上；所述射頻開關上設置有若干第一輸入輸出通道和若干第二輸入輸出通道，所述單極子陣列單元通過所述第一輸入輸出通道與所述射頻開關連接。

優選地，所述垂直極化單極子天線包括：與所述箱體內壁連接的絕緣支架、安裝在所述絕緣支架上的金屬輻射片、與所述金屬輻射片連接的射頻連接器。

優選地，所述射頻連接器貫穿所述箱體的內壁，且與所述第一輸入輸出通道連接；所述水平極化單極子天線的結構與所述垂直極化單極子天線的結構相同。

優選地，所述垂直極化單極子天線、水平極化單極子天線的工作頻率為0.6GHz～8GHz。

優選地，所述金屬輻射片為圓盤狀，且所述金屬輻射片的直徑大于垂直極化單極子天線的最低工作頻率對應的波長的四分之一。

優選地，所述垂直極化單極子天線的金屬輻射片與其相鄰的水平極化單極子天線的金屬輻射片的中心間距為垂直極化單極子天線的最低工作頻率對應的波長的四分之一。