[實用新型]一種微流控芯片檢測平臺

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202223048682.2
• 申請日: 2022-11-16
• 公開（公告）號: CN218917279U
• 公開（公告）日: 2023-04-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 龐作波
• 申請（專利權(quán)）人: 呼和浩特君源精測科技有限公司
• 主分類號: G01N27/72
• 分類號: G01N27/72
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250
• 代理人: 康艷艷

1.一種微流控芯片檢測平臺，其特征在于，包括：

放置平臺(1)，所述放置平臺(1)上適于放置多個微流控芯片；

第一磁場生成器(2)，所述第一磁場生成器(2)能產(chǎn)生第一磁場，且放置平臺(1)位于所述第一磁場內(nèi)；

第一升降機構(gòu)，所述第一升降機構(gòu)具有第一驅(qū)動件(31)，所述第一驅(qū)動件(31)的安裝端與所述放置平臺(1)固定連接，所述第一驅(qū)動件(31)的驅(qū)動端與所述第一磁場生成器(2)連接；

所述第一驅(qū)動件(31)能夠驅(qū)動所述第一磁場生成器(2)遠離或靠近所述放置平臺(1)以調(diào)節(jié)所述第一磁場變化。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，所述第一升降機構(gòu)包括：

第一絲桿(32)，所述第一絲桿(32)一端與所述第一驅(qū)動件(31)的驅(qū)動端固定連接，所述第一絲桿(32)另一端與所述第一磁場生成器(2)螺紋連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，所述第一升降機構(gòu)還包括至少一個第一導(dǎo)向桿(33)，所述第一導(dǎo)向桿(33)一端與所述放置平臺(1)固定連接，所述第一導(dǎo)向桿(33)另一端與所述第一磁場生成器(2)滑動連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，還包括：

第二磁場生成器(4)，所述第二磁場生成器(4)能夠產(chǎn)生第二磁場，且所述放置平臺(1)位于第二磁場內(nèi)；

第二升降機構(gòu)，所述第二升降機構(gòu)具有第二驅(qū)動件(51)，所述第二驅(qū)動件(51)的安裝端與所述放置平臺(1)固定連接，所述第二驅(qū)動件(51)的驅(qū)動端與所述第二磁場生成器(4)連接；

所述第二驅(qū)動件(51)能夠驅(qū)動所述第二磁場生成器(4)遠離或靠近所述放置平臺(1)以調(diào)節(jié)所述第二磁場變化。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，所述第二升降機構(gòu)包括：

第二絲桿(52)，所述第二絲桿(52)一端與所述第二驅(qū)動件(51)的驅(qū)動端固定連接，所述第二絲桿(52)另一端與所述第二磁場生成器(4)螺紋連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，所述第二升降機構(gòu)還包括至少一個第二導(dǎo)向桿(53)，所述第二導(dǎo)向桿(53)一端與所述放置平臺(1)固定連接，所述第二導(dǎo)向桿(53)另一端與所述第二磁場生成器(4)滑動連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，所述放置平臺(1)上設(shè)有若干通孔(11)，所述通孔(11)內(nèi)適于插接所述微流控芯片。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，若干所述通孔(11)均勻間隔分布在所述放置平臺(1)上。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的微流控芯片檢測平臺，其特征在于，若干所述通孔(11)均為圓孔，所述圓孔的直徑為1毫米至10毫米之間。