[實用新型]同軸度校準裝置及應用該裝置的下擺機有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202222984212.0 | 申請日： | 2022-11-09 |
| 公開（公告）號： | CN218801732U | 公開（公告）日： | 2023-04-07 |
| 發(fā)明（設計）人： | 馮志新 | 申請（專利權）人： | 北京創(chuàng)思工貿有限公司 |
| 主分類號： | B25B11/00 | 分類號： | B25B11/00;G01B5/252;G01B5/00 |
| 代理公司： | 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471 | 代理人： | 張瑞 |
| 地址： | 101100 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 同軸 校準 裝置 應用 下擺 | ||
1.同軸度校準裝置，其特征在于，包括：
校準基座，所述校準基座上固定安裝有校準球；
連接頭；
校準構件，所述校準構件包括連接組件和探針，所述連接組件的兩端分別與所述連接頭和所述探針轉動連接；
所述探針位于所述校準基座和所述連接頭之間且所述探針的自由端能與所述校準球的外表面接觸并相對于所述校準球的外表面滑動移動。
2.根據權利要求1所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述校準構件還包括第一緊固件，所述連接組件經所述第一緊固件與所述連接頭和所述探針相連。
3.根據權利要求1所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述校準構件還包括滑動組件，所述滑動組件與所述連接組件轉動連接，所述探針位于所述滑動組件上并能在所述滑動組件的作用下相對于所述連接組件滑動移動。
4.根據權利要求3所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述滑動組件包括緊固軌道和滑動表頭；
所述緊固軌道中部凹陷并形成供所述滑動表頭滑動移動的凹槽，所述凹槽的兩個側壁均沿其長度方向凸起并形成條形導軌；
所述滑動表頭插入所述凹槽內的一端側壁上凹陷并形成與所述條形導軌相配合的條形導槽，所述滑動表頭經過所述條形導槽相對于所述緊固軌道滑動移動。
5.根據權利要求4所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述條形導軌位于所述凹槽的外側緣處。
6.根據權利要求4所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述滑動組件還包括第二緊固件，所述凹槽的側壁上設置有穿孔和緊固孔，所述第二緊固件經所述穿孔與所述緊固孔相連；
轉動所述第二緊固件能調整所述緊固軌道和所述滑動表頭之間的摩擦力以固定或釋放所述滑動表頭。
7.根據權利要求1所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述校準構件還包括與所述探針固定連接的校準表。
8.根據權利要求7所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述校準構件還包括讀數組件，所述讀數組件包括與所述校準表平行布置的讀數鏡。
9.根據權利要求8所述的同軸度校準裝置，其特征在于，所述讀數鏡的鏡面上鍍有高反射膜和/或半透膜。
10.下擺機，其特征在于，包括權利要求1-9中任一項所述的同軸度校準裝置。
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