[實(shí)用新型]姿態(tài)傳感器測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202222656284.2
• 申請(qǐng)日: 2022-10-09
• 公開（公告）號(hào): CN218156209U
• 公開（公告）日: 2022-12-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林焯華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣州阿路比電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01C25/00
• 分類號(hào): G01C25/00
• 代理公司: 深圳維啟專利代理有限公司 44827
• 代理人: 吳永偉

本實(shí)用新型公開了姿態(tài)傳感器測(cè)試裝置，其包括內(nèi)部中空的殼體，所述殼體內(nèi)部中空位置設(shè)有若干個(gè)測(cè)試底座，所述測(cè)試底座上開設(shè)有測(cè)試槽，每個(gè)所述測(cè)試底座設(shè)有用于與待測(cè)試的姿態(tài)傳感器引腳位置相匹配的測(cè)試針，所述測(cè)試針垂直固定于所述測(cè)試槽的槽底位置，所述測(cè)試針的側(cè)壁用于與所述待測(cè)試的姿態(tài)傳感器的引腳一一抵接。本申請(qǐng)具有減少測(cè)試針的占用空間，便于增加多個(gè)測(cè)試底座對(duì)姿態(tài)傳感器進(jìn)行批量測(cè)試的效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及傳感器測(cè)試裝置領(lǐng)域，尤其是涉及姿態(tài)傳感器測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

目前，姿態(tài)傳感器被廣泛應(yīng)用于無人機(jī)、機(jī)械云臺(tái)、機(jī)器人及虛擬現(xiàn)實(shí)等領(lǐng)域中，姿態(tài)傳感器可以通過低功耗的ARM處理器輸出校準(zhǔn)過的角速度、加速度和磁數(shù)據(jù)等，大大提高了智能產(chǎn)品對(duì)運(yùn)動(dòng)姿態(tài)的掌控，姿態(tài)傳感器在投入使用之前通常需要進(jìn)行性能測(cè)試。

現(xiàn)有的姿態(tài)傳感器測(cè)試裝置包括調(diào)試板，調(diào)試板上固定安裝有若干側(cè)邊頂針，側(cè)邊頂針相對(duì)設(shè)置形成測(cè)試工位，且側(cè)邊頂針遠(yuǎn)離測(cè)試工位的一端沿調(diào)試板的橫截面方向延伸，側(cè)邊頂針位于測(cè)試工位處的端部位置與待測(cè)試的姿態(tài)傳感器的引腳位置相互抵接，在對(duì)姿態(tài)傳感器進(jìn)行測(cè)試時(shí)，將調(diào)試板放置于測(cè)試環(huán)境中，并通過側(cè)邊頂針將待測(cè)試傳感器的性能參數(shù)以電信號(hào)的方式傳遞至對(duì)應(yīng)的處理中心。

上述中的橫向鋪設(shè)測(cè)試針?biāo)加玫臏y(cè)試空間較大，存在有橫向鋪設(shè)的測(cè)試針占用測(cè)試空間較大的缺陷。

實(shí)用新型內(nèi)容

為了減小測(cè)試針在調(diào)試板上的占用空間，便于增加多個(gè)測(cè)試底座對(duì)姿態(tài)傳感器進(jìn)行批量測(cè)試，本申請(qǐng)?zhí)峁┳藨B(tài)傳感器測(cè)試裝置。

本申請(qǐng)?zhí)峁┑淖藨B(tài)傳感器測(cè)試裝置，采用如下的技術(shù)方案：

提供姿態(tài)傳感器測(cè)試裝置，包括：內(nèi)部中空的殼體，所述殼體內(nèi)部中空位置設(shè)有若干個(gè)測(cè)試底座，所述測(cè)試底座上開設(shè)有測(cè)試槽，每個(gè)所述測(cè)試底座設(shè)有用于與待測(cè)試傳感器引腳位置相匹配的測(cè)試針，所述測(cè)試針垂直固定于所述測(cè)試槽的槽底位置，所述測(cè)試針的側(cè)壁用于與所述待測(cè)試的姿態(tài)傳感器的引腳一一抵接。

通過采用上述技術(shù)方案，由于橫向鋪設(shè)的測(cè)試針需要將針頭位置與待測(cè)試的姿態(tài)傳感器的引腳分別進(jìn)行一一抵接，從而造成橫向鋪設(shè)的測(cè)試針占用過多的測(cè)試空間，不便于同時(shí)對(duì)多個(gè)姿態(tài)傳感器進(jìn)行批量測(cè)試，因此，在進(jìn)行姿態(tài)傳感器測(cè)試時(shí)，通過垂直固定于測(cè)試槽的若干個(gè)測(cè)試針的側(cè)壁與待測(cè)試的姿態(tài)傳感器的引腳分別進(jìn)行一一抵接，通過每個(gè)測(cè)試針和姿態(tài)傳感器的引腳之間的相互抵接作用，提高測(cè)試針和姿態(tài)傳感器的連接穩(wěn)定性，通過垂直于測(cè)試槽槽底的測(cè)試針，使測(cè)試底座的占用空間與待測(cè)試姿態(tài)傳感器的大小相適配，來減少測(cè)試針鋪設(shè)時(shí)占用的測(cè)試空間，相對(duì)于橫向鋪設(shè)的測(cè)試針，本申請(qǐng)可以在相同的測(cè)試空間內(nèi)鋪設(shè)多個(gè)測(cè)試底座，從而便于對(duì)姿態(tài)傳感器進(jìn)行批量測(cè)試，提高測(cè)試裝置對(duì)姿態(tài)傳感器的測(cè)試效率。

優(yōu)選的，測(cè)試裝置還包括：用于限制待測(cè)試的姿態(tài)傳感器發(fā)生偏移的蓋板，所述蓋板蓋設(shè)于所述測(cè)試底座的開口上方位置；所述蓋板的相對(duì)兩側(cè)分別設(shè)有將所述蓋板和所述殼體進(jìn)行鎖定的鎖定組件。

通過采用上述技術(shù)方案，由于姿態(tài)傳感器常常需要進(jìn)行翻轉(zhuǎn)測(cè)試，因此，在將待測(cè)試的姿態(tài)傳感器放置于測(cè)試底座后，為了減少垂直設(shè)置的定測(cè)試針將放置好的姿態(tài)傳感器頂出測(cè)試槽，本申請(qǐng)將蓋板蓋設(shè)于測(cè)試底座的開口上方，且通過鎖定組件將蓋板和殼體進(jìn)行鎖定，提高蓋板和殼體的裝配穩(wěn)定性，從而減少姿態(tài)傳感器在進(jìn)行翻轉(zhuǎn)測(cè)試時(shí)，姿態(tài)傳感器因翻轉(zhuǎn)發(fā)生偏移而引起測(cè)試誤差的情況，從而提高姿態(tài)傳感器和測(cè)試針的裝配穩(wěn)定性。

優(yōu)選的，所述鎖定組件包括：相對(duì)設(shè)置的鎖定板，所述鎖定板分別鉸接于所述蓋板的相對(duì)兩側(cè)；所述鎖定板遠(yuǎn)離所述蓋板的一側(cè)設(shè)有卡接塊；所述殼體的相對(duì)兩側(cè)設(shè)有與所述卡接塊相配合的限位槽，所述卡接塊用于卡接于所述限位槽。