[實用新型]可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202222636059.2 | 申請日: | 2022-10-08 |
| 公開(公告)號: | CN218885754U | 公開(公告)日: | 2023-04-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳奇良;傅勇;賴旭明;姚燦堅;安明靜 | 申請(專利權(quán))人: | 贛州市同興達(dá)電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司: | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384 | 代理人: | 彭濤;謝志龍 |
| 地址: | 341001 江西省贛*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢驗 一體化 | ||
1.可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具,其特征在于,包括總基板,所述總基板的一側(cè)面固定有一個焊檢治具和兩個焊高治具,所述兩個焊高治具位于焊檢治具的同一側(cè);
所述焊檢治具包括焊檢治具平臺,所述焊檢治具平臺上設(shè)置有三個位置可調(diào)的擋塊,所述三個位置可調(diào)的擋塊呈品字形分布;
所述焊高治具包括第一組成塊和第二組成塊,所述第一組成塊和第二組成塊通過螺絲上下固定成一體,所述第一組成塊和第二組成塊之間形成一檢驗縫隙,所述檢驗縫隙的一端開口。
2.如權(quán)利要求1所述的可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具,其特征在于,所述檢驗縫隙的寬度為0.37mm-0.4mm。
3.如權(quán)利要求1所述的可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具,其特征在于,所述焊檢治具平臺的兩側(cè)設(shè)置有向下凹陷的取放槽。
4.如權(quán)利要求1所述的可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具,其特征在于,所述焊檢治具平臺上開設(shè)有兩條平行的第一調(diào)節(jié)槽,所述總基板上設(shè)置有多個第一固定孔,所述第一調(diào)節(jié)槽內(nèi)穿螺絲固定于位置相對應(yīng)的第一固定孔上。
5.如權(quán)利要求1所述的可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具,其特征在于,所述擋塊上開設(shè)有兩天平行的第二調(diào)節(jié)槽,所述焊檢治具平臺上開設(shè)有多個第二固定孔,所述第二調(diào)節(jié)槽內(nèi)穿螺絲固定于位置相對應(yīng)的第二固定孔上。
6.如權(quán)利要求4所述的可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具,其特征在于,所述第一組成塊上開設(shè)有第三調(diào)節(jié)槽,所述第三調(diào)節(jié)槽內(nèi)穿螺絲固定于位置相對應(yīng)的第一固定孔上。
7.如權(quán)利要求1所述的可用于焊檢及焊高檢驗的一體化治具,其特征在于,所述第一組成塊和第二組成塊上設(shè)置有相匹配的第三固定孔,所述第三固定孔內(nèi)穿螺絲將第一組成塊和第二組成塊固定成一體。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





