[實用新型]10匝臺測試工裝

有效

• 申請號: 202222524523.9
• 申請日: 2022-09-23
• 公開（公告）號: CN218350341U
• 公開（公告）日: 2023-01-20
• 發明（設計）人: 孫天江;陳亙琳
• 申請（專利權）人: 重慶宏泰達儀器儀表有限責任公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R33/12
• 代理公司: 重慶智慧之源知識產權代理事務所(普通合伙) 50234
• 代理人: 高彬

本實用新型涉及互感器磁芯測試技術領域，特別涉及10匝臺測試工裝；包括工裝底座，所述工裝底座對應測試棒的位置內嵌有測試座，所述測試座的中部位置開設有圓形槽，所述圓形槽的外側壁呈放射狀向外且等間距分布有十個放置腔，十個所述放置腔內依次布設有第一下觸點、第二下觸點、第三下觸點、第四下觸點、第五下觸點、第六下觸點、第七下觸點、第八下觸點、第九下觸點和第十下觸點。本實用新型通過高度調節機構，能夠控制測試棒分別與第一下觸點、第二下觸點、第三下觸點、第四下觸點、第五下觸點、第六下觸點、第七下觸點、第八下觸點、第九下觸點和第十下觸點的離合，能夠實現環形磁芯電流性能的檢測，大大提高了測試效率。

技術領域

本實用新型涉及互感器磁芯測試技術領域，特別涉及10匝臺測試工裝。

背景技術

目前，對于環型的互感器磁芯電流性能的檢測，需將磁芯繞制成10匝的一個繞組進行測試，以往測試中通常使用導線2通過手工穿匝/繞線機繞制進行完成，如圖1中為傳統繞制方式，存在如下問題：

(1)批量測試過程中存在需要手工/繞線機繞制，導致工作量大的問題；

(2)測試完成后還需要再次將導線2拆除才能二次使用，大大影響了測試效率。

為此，提出10匝臺測試工裝。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供10匝臺測試工裝，解決了現有技術中批量測試過程中存在需要手工/繞線機繞制，導致工作量大以及測試完成后還需要再次將導線拆除才能二次使用，大大影響了測試效率的技術問題。

為了實現上述目的，本實用新型的技術方案如下：

10匝臺測試工裝，包括工裝底座，所述工裝底座上固定安裝有高度調節機構，所述高度調節機構上固定安裝有測試棒，所述工裝底座對應測試棒的位置內嵌有測試座，所述測試座為頂面開口的圓柱狀結構，所述測試座的中部位置開設有圓形槽，所述圓形槽的外側壁呈放射狀向外且等間距分布有十個放置腔，所述放置腔與圓形槽相連通，所述圓形槽內固定安裝有絕緣套，十個所述放置腔內依次布設有第一下觸點、第二下觸點、第三下觸點、第四下觸點、第五下觸點、第六下觸點、第七下觸點、第八下觸點、第九下觸點和第十下觸點，所述第一下觸點、第二下觸點、第三下觸點、第四下觸點、第五下觸點、第六下觸點、第七下觸點、第八下觸點、第九下觸點和第十下觸點的一端均貫穿且固定安裝于絕緣套上，另一端均套設且抵接有彈簧，所述彈簧與放置腔內壁固定連接，所述測試棒內部呈環形陣列固接安裝有第一上觸點、第二上觸點、第三上觸點、第四上觸點、第五上觸點、第六上觸點、第七上觸點、第八上觸點、第九上觸點和第十上觸點，且第一上觸點、第二上觸點、第三上觸點、第四上觸點、第五上觸點、第六上觸點、第七上觸點、第八上觸點、第九上觸點和第十上觸點兩兩之間通過絕緣膠相分隔絕緣，所述第一上觸點與電流輸入線相連接，所述第一上觸點與第二上觸點之間通過導線連接，所述第二上觸點與第一下觸點之間接觸連接，所述第一下觸點與第二下觸點之間通過導線連接，所述第二下觸點與第三上觸點之間接觸連接，所述第三上觸點與第四上觸點之間通過導線連接，所述第四上觸點與第三下觸點之間接觸連接，所述第三下觸點與第四下觸點之間通過導線連接，所述第四下觸點與第五上觸點之間接觸連接，所述第五上觸點與第六上觸點之間通過導線連接，所述第六上觸點與第五下觸點之間接觸連接，所述第五下觸點與第六下觸點之間通過導線連接，所述第六下觸點與第七上觸點之間接觸連接，所述第七上觸點與第八上觸點之間通過導線連接，所述第八上觸點與第七下觸點之間接觸連接，所述第七下觸點與第八下觸點之間通過導線連接，所述第八下觸點與第九上觸點之間接觸連接，所述第九上觸點與第十上觸點之間通過導線連接，所述第十上觸點與第九下觸點之間接觸連接，所述第九下觸點與第十下觸點之間通過導線連接，所述第十下觸點與電流輸出線相連接。