[實用新型]一種四波混頻空間相位匹配系統

有效

• 申請號: 202222354976.1
• 申請日: 2022-09-05
• 公開（公告）號: CN217846841U
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 夏元欽;云勝;章媛;張志斌;鄧巖巖;曹赫;葛慧;章磊
• 申請（專利權）人: 河北工業大學
• 主分類號: G02F1/35
• 分類號: G02F1/35
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張換男

1.一種四波混頻空間相位匹配系統，其特征在于，所述系統包括第一光闌(1)、第二光闌(2)、第三光闌(3)、第一分束鏡(4)、第二分束鏡(5)、第一平面反射鏡(6)、第二平面反射鏡(7)、第三平面反射鏡(8)、第四平面反射鏡(9)、第五平面反射鏡(10)、第六平面反射鏡(11)、第七平面反射鏡(12)、第八平面反射鏡(13)、第九平面反射鏡(14)、第十平面反射鏡(15)、第十一平面反射鏡(16)、第十二平面反射鏡(17)、第十三平面反射鏡(18)、第十四平面反射鏡(19)、第十五平面反射鏡(20)、第十六平面反射鏡(21)、第十七平面反射鏡(22)、第十八平面反射鏡(23)、第一聚焦透鏡(24)和第二聚焦透鏡(25)；其中：

飛秒脈沖激光入射至第十七平面反射鏡(22)，經過第十七平面反射鏡(22)反射后入射至第十六平面反射鏡(21)，經過第十六平面反射鏡(21)反射的光入射到光闌(1)的中心；

經第一光闌(1)透射的光入射至第一分束鏡(4)的中心，經過第一分束鏡(4)中心獲得的透射光入射至第一平面反射鏡(6)的中心，經第一平面反射鏡(6)中心的反射光入射至第二平面反射鏡(7)的中心；

經第二平面反射鏡(7)反射的光入射至第三平面反射鏡(8)的中心，經第三平面反射鏡(8)反射的光入射至第四平面反射鏡(9)的中心，經第四平面反射鏡(9)反射的光入射至第一聚焦透鏡(24)；

經過第一分束鏡(4)中心獲得的反射光入射至第二分束鏡(5)的中心，經過第二分束鏡(5)中心獲得的透射光入射至第十一平面反射鏡(16)的中心，經過第十一平面反射鏡(16)反射的光入射至第十二平面反射鏡(17)的中心；

經第十二平面反射鏡(17)反射的光入射至第十三平面反射鏡(18)的中心，經第十三平面反射鏡(18)反射的光入射至第十四平面反射鏡(19)的中心，經第十四平面反射鏡(19)反射的光入射至第十五平面反射鏡(20)的中心；

經第十五平面反射鏡(20)反射的光通過第二光闌(2)的中心，經第二光闌(2)透射的光入射至第一聚焦透鏡(24)；

經過第二分束鏡(5)中心獲得的反射光入射至第五平面反射鏡(10)的中心，經第五平面反射鏡(10)反射的光入射至第六平面反射鏡(11)的中心，經第六平面反射鏡(11)反射的光入射至第七平面反射鏡(12)的中心；

經第七平面反射鏡(12)反射回來的光入射至第八平面反射鏡(13)的中心，經第八平面反射鏡(13)反射的光入射至第九平面反射鏡(14)的中心，經第九平面反射鏡(14)反射的光入射至第十平面反射鏡(15)的中心，經第十平面反射鏡(15)反射的光入射至第一聚焦透鏡(24)；

入射至第一聚焦透鏡(24)的三束光匯聚到樣品上產生四波混頻信號光，四波混頻信號光經過第二聚焦透鏡(25)的準直后獲得的信號光入射至第三光闌(3)的中心，經過第三光闌(3)中心的透射光再入射到第十八平面反射鏡(23)的中心，經第十八平面反射鏡(23)反射回來的光入射到光譜儀進行信號采集。

2.根據權利要求1所述的一種四波混頻空間相位匹配系統，其特征在于，所述系統還包括第一平移臺(26)和第二平移臺(27)，所述第一平面反射鏡(6)和第二平面反射鏡(7)固設于第一平移臺(26)上，所述第七平面反射鏡(12)和第八平面反射鏡(13)固設于第二平移臺(27)上。

3.根據權利要求2所述的一種四波混頻空間相位匹配系統，其特征在于，所述系統還包括光學面包板(28)，所述第一光闌(1)、第二光闌(2)、第三光闌(3)、第一分束鏡(4)、第二分束鏡(5)、第一平面反射鏡至第十五平面反射鏡、第一平移臺(26)、第二平移臺(27)、第一聚焦透鏡(24)以及第二聚焦透鏡(25)均固設于光學面包板(28)上。

4.根據權利要求3所述的一種四波混頻空間相位匹配系統，其特征在于，所述第一分束鏡(4)、第二分束鏡(5)的透射和反射比均為50：50。

5.根據權利要求4所述的一種四波混頻空間相位匹配系統，其特征在于，所述第一光闌(1)和第二光闌(2)的孔徑大小均為1mm～4mm。