[實(shí)用新型]MCU的IO接口檢測(cè)電路及MCU的ATE自動(dòng)化設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202222327196.8 | 申請(qǐng)日: | 2022-08-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN218213299U | 公開(公告)日: | 2023-01-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張吉紅;王軍;張強(qiáng);樓鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鄭州大學(xué);成都極??萍加邢薰?/a> |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 廣東南越商專知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44809 | 代理人: | 張鳴;許春蘭 |
| 地址: | 450006 河南省鄭*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | mcu io 接口 檢測(cè) 電路 ate 自動(dòng)化 設(shè)備 | ||
本實(shí)用新型公開一種MCU的IO接口檢測(cè)電路及MCU的ATE自動(dòng)化設(shè)備。該檢測(cè)電路包括處理模塊和通信模塊;用于檢測(cè)待檢測(cè)MCU的IO連通性,待檢測(cè)MCU包括IO模塊和比較模塊;通信模塊電連接于待檢測(cè)MCU與處理模塊之間,處理模塊通過通信模塊對(duì)待檢測(cè)MCU的IO模塊進(jìn)行檢測(cè);IO模塊被配置為輸入IO與輸出IO,輸入IO與輸出IO存在信號(hào)交換關(guān)系,比較模塊的輸入端接收IO模塊的信號(hào)進(jìn)行比較,并輸出比較結(jié)果,通信模塊將比較結(jié)果輸出到處理模塊,處理模塊判斷待檢測(cè)MCU的IO連通性是否異常。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種MCU的IO接口檢測(cè)電路及MCU的ATE自動(dòng)化設(shè)備。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,檢測(cè)MCU的IO接口的連通性的裝置包括反向二極管與萬用表,其中反向二極管與IO口相連,萬用表接反向二極管,以此來檢測(cè)IO的連通性。
該裝置只能每個(gè)IO口逐個(gè)檢測(cè),效率很低,操作復(fù)雜。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,本實(shí)用新型的目的是提供一種MCU的IO接口檢測(cè)電路及MCU的ATE自動(dòng)化設(shè)備,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)裝置效率低和操作復(fù)雜的問題。
根據(jù)本實(shí)用新型的第一個(gè)方面,提供了MCU的IO接口檢測(cè)電路,用于與待檢測(cè)MCU電連接,檢測(cè)待檢測(cè)MCU的IO連通性,待檢測(cè)MCU包括IO模塊和比較模塊,包括處理模塊和通信模塊;
通信模塊電連接于待檢測(cè)MCU與處理模塊之間,處理模塊通過通信模塊對(duì)待檢測(cè)MCU的IO模塊進(jìn)行檢測(cè);
IO模塊被配置為輸入IO與輸出IO,輸入IO與輸出IO存在信號(hào)交換關(guān)系,比較模塊的輸入端接收IO模塊的信號(hào)進(jìn)行比較,并輸出比較結(jié)果,通信模塊將比較結(jié)果輸出到處理模塊,處理模塊判斷待檢測(cè)MCU的IO連通性是否異常。
本實(shí)用新型的MCU的IO接口檢測(cè)電路,通過將IO模塊配置為輸入IO與輸出IO,并使輸入IO與輸出IO存在信號(hào)交換關(guān)系,利用待檢測(cè)MCU的比較模塊來比較IO模塊的信號(hào),以此判斷待檢測(cè)MCU的IO連通性是否異常,從而利用IO口自身檢測(cè)能力,實(shí)現(xiàn)IO自檢測(cè),提高IO連通性的檢測(cè)效率和較低檢測(cè)的操作難度。
在一些實(shí)施方式中,信號(hào)交換關(guān)系為每個(gè)輸入IO僅與一個(gè)輸出IO通信連接,每個(gè)輸出IO僅與一個(gè)輸入IO通信連接。
在一些實(shí)施方式中,輸入IO與輸出IO之間電連接有信號(hào)處理裝置,信號(hào)處理裝置從輸出IO接收信號(hào),并發(fā)送與接收信號(hào)完全相同的信號(hào)給輸入IO。
在一些實(shí)施方式中,輸入IO與輸出IO短接。
在一些實(shí)施方式中,還包括將輸入IO配置為輸出IO,輸出IO配置為輸入IO;重新檢測(cè)確認(rèn)輸入IO作為輸出IO的連通性,以及輸出IO作為輸入IO的連通性。
在一些實(shí)施方式中,IO模塊有多對(duì)通信連接的輸入IO與輸出IO;
若檢測(cè)到一對(duì)IO對(duì)出現(xiàn)異常,將其中的輸入IO、輸出IO分別與其他正常IO對(duì)中的輸出IO、輸入IO重新形成通信連接,重新檢測(cè)確認(rèn)出現(xiàn)連通性異常的IO。由此,可進(jìn)一步測(cè)得具體出現(xiàn)連通性異常的IO,提高準(zhǔn)確性。
在一些實(shí)施方式中,還包括socket座,socket座設(shè)置有引腳,待檢測(cè)MCU安裝于socket座,待檢測(cè)MCU的引腳與socket座的引腳對(duì)應(yīng)電連接。由此,可解決待檢測(cè)MCU上IO相互連接不便的問題。
在一些實(shí)施方式中,通信模塊與socket座的引腳電連接,通信模塊通過socket座與待檢測(cè)MCU形成通信連接。
在一些實(shí)施方式中,還包括電源模塊,電源模塊與socket座電連接,電源模塊通過socket座給待檢測(cè)MCU供電。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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