[實用新型]一種探針卡板

有效

• 申請號: 202222095597.5
• 申請日: 2022-08-09
• 公開（公告）號: CN218727792U
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 周國成
• 申請（專利權）人: 無錫矽鵬半導體檢測有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/073
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 朱曉林

一種探針卡板，包括PCB板,PCB板上連接有tr im測試板、繼電器控制單元、第一繼電器組、第二繼電器組；PCB板上開設有芯片測試槽，芯片測試槽用于放置待檢測的芯片；tr im測試板上設有32個對稱的測試觸點；繼電器控制單元上設有芯片功能模塊引腳、第一電流電壓控制引腳、第二電流電壓控制引腳、輸出信號引腳；第一繼電器組連接分別連接電流電壓控制引腳以及待檢測的芯片帶有熔絲的引腳，實現熔絲的熔斷；芯片功能模塊引腳、第二繼電器組、待測的芯片的功能模塊引腳連接,實現芯片功能的測試。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試領域，尤其涉及一種探針卡板。

背景技術

探針卡板作為一種高精密電子元件，主要應用在芯片尚未封裝前，通過將探針卡板上的探針與芯片上的焊墊或凸塊進行接觸，從而接收芯片訊號，篩選出不良產品。探針卡板是芯片制造中影響極大的高精密器件，也是確保芯片良品率和成本控制的重要環節。在使用時，通常是通過測試機臺發送測試信號，經探針卡板到待測物，再由待測物回送測試結果信號，經探針卡板到測試機臺進行分析。由于每一種芯片的構造和所要達到的目的不同，必要的測試方法也有所不同，這就要求同一類型的芯片測試必須配有特定的探針卡板進行測試。

實用新型內容

為了測試半導體芯片型號C108-2500，所以針對這樣型號的半導體芯片需要配套的探針卡板對其進行測試，本實用新型采用以下技術方案：

本實用新型提供了一種探針卡板，包括PCB板,PCB板上連接有trim測試板、繼電器控制單元、第一繼電器組、第二繼電器組、第三繼電器；

PCB板上開設有芯片測試槽，芯片測試槽用于放置待檢測的型號為C108-2500的半導體芯片U1；trim測試板上設有32個對稱的測試觸點；

第一繼電器組包括6個繼電器，分別為繼電器KS、KCS0、KCS1、KM、KIM、KCF_CS；第二繼電器組包括12個繼電器，分別為繼電器KT1～KT12；第三繼電器組包括2個繼電器，分別為繼電器KIO、K4。

繼電器控制單元上設有芯片功能模塊引腳、第一電流電壓控制引腳、第二電流電壓控制引腳、輸出信號引腳。其中：繼電器控制單元為JP接線牛角，JP接線牛角的UR9～UR14引腳為第一電流電壓控制引腳；JP接線牛角的UR3～UR8引腳為第二電流電壓控制引腳；JP接線牛角的UR1～UR2引腳為第三電流電壓控制引腳；JP接線牛角的A2F引腳、A2S引腳、D2F引腳、D2S引腳連接、C4F引腳、C4S引腳為輸出信號引腳；JP接線牛角的B2F引腳、B2S引腳、C2F引腳、C2S引腳、A4F引腳、A4S引腳、B4F引腳、B4S引腳、D4F引腳、D4S引腳為芯片功能模塊引腳；JP接線牛角的UR引腳外接+5V電壓；JP接線牛角的A3GF、A3GS、A4GS、A4GF、A1GF、A1GS、A2GS、A2GF引腳接地；

1.第一繼電器組連接分別連接第一電流電壓控制引腳以及待檢測的芯片帶有熔絲的引腳，實現熔絲的熔斷。具體連接方式如下：

UR9引腳分別與繼電器KT10和繼電器KT12的線圈一端連接；UR10引腳分別與繼電器KT9和繼電器KT10的線圈一端連接；UR11引腳分別與繼電器KT8和繼電器KT7的線圈一端連接；UR12引腳分別與繼電器KT6和繼電器KT5的線圈一端連接；UR13引腳分別與繼電器KT4和繼電器KT3的線圈一端連接；UR14引腳分別與繼電器KT2和繼電器KT1的線圈一端連接；