[實(shí)用新型]CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202222068469.1
• 申請(qǐng)日: 2022-08-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN218830444U
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-04-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王林旺;譚湘;王志浩;操文武
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市辰卓科技有限公司
• 主分類號(hào): H04N25/76
• 分類號(hào): H04N25/76;H04N17/06
• 代理公司: 深圳五鄰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44590
• 代理人: 胡明

1.一種CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述CMOS圖像傳感器CIS測(cè)試機(jī)包括：主控芯片、測(cè)量單元、以及開(kāi)關(guān)矩陣單元，其中，

所述主控芯片包括圖像測(cè)試模塊和電性測(cè)試模塊，并與所述開(kāi)關(guān)矩陣單元相連，用于將上位機(jī)發(fā)送的測(cè)試信號(hào)傳輸至所述開(kāi)關(guān)矩陣單元；

所述開(kāi)關(guān)矩陣單元，用于根據(jù)所述測(cè)試信號(hào)分別將所述圖像測(cè)試模塊或者所述電性測(cè)試模塊，與待測(cè)器件DUT的不同引腳導(dǎo)通，所述引腳包括電源引腳和圖像輸出引腳；

當(dāng)所述電性測(cè)試模塊通過(guò)所述開(kāi)關(guān)矩陣單元分別與所述DUT的電源引腳和/或所述圖像輸出引腳導(dǎo)通，所述主控芯片控制所述測(cè)量單元采集所述DUT的電性參數(shù)，并將所述電性參數(shù)傳輸至所述電性測(cè)試模塊進(jìn)行電性測(cè)試；

當(dāng)所述圖像測(cè)試模塊通過(guò)所述開(kāi)關(guān)矩陣單元與所述DUT的圖像輸出引腳導(dǎo)通，所述主控芯片控制所述圖像測(cè)試模塊對(duì)所述DUT輸出的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行采集和圖像測(cè)試。

2.如權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述開(kāi)關(guān)矩陣單元包括高速信號(hào)開(kāi)關(guān)組和低速信號(hào)開(kāi)關(guān)組，其中，

所述高速信號(hào)開(kāi)關(guān)組包括第一輸入端、第一開(kāi)關(guān)部和第二開(kāi)關(guān)部，所述第一輸入端與所述主控芯片相連，所述第一開(kāi)關(guān)部用于導(dǎo)通所述測(cè)量單元與所述DUT的圖像輸出引腳，所述第二開(kāi)關(guān)部用于導(dǎo)通所述圖像測(cè)試模塊與所述DUT的圖像輸出引腳；

所述低速信號(hào)開(kāi)關(guān)組包括第二輸入端和第三開(kāi)關(guān)部，所述第二輸入端與所述主控芯片相連，所述第三開(kāi)關(guān)部用于導(dǎo)通所述測(cè)量單元與所述DUT的電源引腳。

3.如權(quán)利要求2所述的CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述引腳還包括輸入輸出引腳；

所述低速信號(hào)開(kāi)關(guān)組還包括第四開(kāi)關(guān)部和第五開(kāi)關(guān)部，所述第四開(kāi)關(guān)部用于導(dǎo)通所述測(cè)量單元與所述DUT的輸入輸出引腳，所述第五開(kāi)關(guān)部用于導(dǎo)通所述主控芯片與所述DUT的輸入輸出引腳。

4.如權(quán)利要求3所述的CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述CIS測(cè)試機(jī)還包括電源輸出單元；

所述低速信號(hào)開(kāi)關(guān)組還包括第六開(kāi)關(guān)部和第七開(kāi)關(guān)部，所述第六開(kāi)關(guān)部，用于在所述電源輸出單元與所述DUT的電源引腳導(dǎo)通時(shí)，將所述電源輸出單元輸出的電源電壓傳輸至所述DUT；

所述第七開(kāi)關(guān)部，用于在所述電源輸出單元與所述DUT的電源引腳導(dǎo)通時(shí)，將所述DUT的工作電壓傳輸至所述電源輸出單元。

5.如權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述CIS測(cè)試機(jī)還包括電源輸出單元，其中，

所述電源輸出單元包括電壓輸出模塊，用于向所述DUT提供電源電壓，作為所述DUT的工作電壓。

6.如權(quán)利要求5所述的CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述電源輸出單元還包括電壓采集模塊和電壓補(bǔ)償模塊，其中，

所述電壓采集模塊，與所述電壓補(bǔ)償模塊相連，用于采集所述DUT的工作電壓，并將所述工作電壓傳輸至所述電壓補(bǔ)償模塊；

所述電壓補(bǔ)償模塊，與所述電壓輸出模塊相連，用于計(jì)算所述電源電壓與所述工作電壓的差值，并將所述差值反饋至所述電壓輸出模塊，使得所述電壓輸出模塊根據(jù)所述差值調(diào)節(jié)所述電源電壓。

7.如權(quán)利要求5所述的CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述電源輸出單元還包括過(guò)流保護(hù)模塊，所述過(guò)流保護(hù)模塊包括電流輸入端和控制輸出端，其中，

所述電流輸入端連接在所述電壓輸出模塊與所述開(kāi)關(guān)矩陣單元的中間節(jié)點(diǎn)，用于采集所述電壓輸出模塊與所述開(kāi)關(guān)矩陣單元之間的電流；

所述控制輸出端與所述電壓輸出模塊相連，用于在所述電壓輸出模塊與所述開(kāi)關(guān)矩陣單元之間的電流超過(guò)電流閾值時(shí)，向所述電壓輸出模塊發(fā)送關(guān)斷控制信號(hào)，使得所述電壓輸出模塊根據(jù)所述關(guān)斷控制信號(hào)停止向所述DUT提供所述電源電壓。

8.如權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述測(cè)量單元包括模數(shù)轉(zhuǎn)換ADC模塊，用于將所述DUT經(jīng)過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換處理的電性參數(shù)傳輸至所述電性測(cè)試模塊進(jìn)行電性測(cè)試。