[實用新型]高精度SiP激光打標(biāo)檢測治具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202221707515.1
• 申請日: 2022-07-01
• 公開（公告）號: CN217541728U
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 彭勇;鮑雨;韓毅;韓彥召
• 申請（專利權(quán)）人: 池州華宇電子科技股份有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 合肥中博知信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34142
• 代理人: 管秋香

本實用新型提供了一種高精度SiP激光打標(biāo)檢測治具，涉及檢測治具技術(shù)領(lǐng)域。所述檢測治具包括：底模和蓋板；底模的頂端開設(shè)有向下延伸的蓋板槽，蓋板槽的四周設(shè)置有若干定位柱；蓋板采用透明的高分子材質(zhì)，蓋板的底面印刻有參照線格，蓋板開設(shè)有與定位柱一一對應(yīng)的定位缺口；蓋板將待檢件壓制在蓋板槽內(nèi)，定位柱與定位缺口匹配確保了蓋板的定位精準(zhǔn)，利用參照線格的輔助，通過透明的蓋板對待檢件激光打標(biāo)位置進(jìn)行檢測，大幅度提升了檢測治具的檢測精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及檢測治具技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種高精度SiP激光打標(biāo)檢測治具。

背景技術(shù)

SiP激光打標(biāo)檢測治具是在SiP半導(dǎo)體封裝過程中對半導(dǎo)體產(chǎn)品的激光打標(biāo)位置進(jìn)行檢測的裝置，一般由底模和開設(shè)鏤空網(wǎng)格的金屬蓋板構(gòu)成，底模和金屬蓋板通過定位針定位合模，對整條的半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行夾持，然后通過鏤空網(wǎng)格來檢測半導(dǎo)體產(chǎn)品上的激光打標(biāo)是否偏位。

但是，現(xiàn)有激光打標(biāo)檢測治具為了保證蓋板的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，鏤空網(wǎng)格的連筋較粗，影響檢測效果；并且金屬蓋板容易形變導(dǎo)致定位偏差，影響檢測效果，因此現(xiàn)有的激光打標(biāo)檢測治具的檢測精度偏低。

實用新型內(nèi)容

(一)解決的技術(shù)問題

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型提供了一種高精度SiP激光打標(biāo)檢測治具，解決了激光打標(biāo)檢測治具檢測精度低的問題。

(二)技術(shù)方案

為實現(xiàn)以上目的，本實用新型通過以下技術(shù)方案予以實現(xiàn)：

一種高精度SiP激光打標(biāo)檢測治具，所述檢測治具包括：底模和蓋板；

所述底模的頂端開設(shè)有向下延伸的蓋板槽，蓋板槽的四周設(shè)置有若干定位柱；

所述蓋板采用透明的高分子材質(zhì)，蓋板的底面印刻有參照線格，蓋板開設(shè)有與定位柱一一對應(yīng)的定位缺口。

優(yōu)選的，所述蓋板槽由下至上向外拔模。

優(yōu)選的，所述蓋板槽內(nèi)開設(shè)有向下延伸的壓槽，所述壓槽內(nèi)設(shè)置有若干定位凸起，待檢件形狀與壓槽適配，待檢件定位孔與定位凸起一一對應(yīng)，待檢件放置在壓槽內(nèi)，待檢件定位孔套設(shè)在定位凸起上。

優(yōu)選的，所述壓槽的邊緣開設(shè)有延伸槽，所述壓槽和延伸槽內(nèi)設(shè)置有形狀適配的壓制框，所述壓制框?qū)⒋龣z件壓制固定在壓槽內(nèi)。

優(yōu)選的，所述壓制框開設(shè)有定位凸起一一對應(yīng)的定位通孔。

優(yōu)選的，所述壓槽和延伸槽的邊緣開設(shè)有扣槽。

優(yōu)選的，所述蓋板開設(shè)有與定位凸起一一對應(yīng)的避讓孔。

優(yōu)選的，所述定位柱和定位凸起的頂端均倒圓角。

優(yōu)選的，所述底模的四周開設(shè)有切槽，所述切槽的槽底高度低于壓槽的槽底。

優(yōu)選的，所述切槽的頂部倒圓角。

(三)有益效果

本實用新型提供了一種高精度SiP激光打標(biāo)檢測治具。與現(xiàn)有技術(shù)相比，具備以下有益效果：

本實用新型中，所述檢測治具包括：底模和蓋板；底模的頂端開設(shè)有向下延伸的蓋板槽，蓋板槽的四周設(shè)置有若干定位柱；蓋板采用透明的高分子材質(zhì)，蓋板的底面印刻有參照線格，蓋板開設(shè)有與定位柱一一對應(yīng)的定位缺口；蓋板將待檢件壓制在蓋板槽內(nèi)，定位柱與定位缺口匹配確保了蓋板的定位精準(zhǔn)，利用參照線格的輔助，通過透明的蓋板對待檢件激光打標(biāo)位置進(jìn)行檢測，大幅度提升了檢測治具的檢測精度。

附圖說明