[實用新型]可調式獨立溫控的恒溫測試裝置

有效

• 申請號: 202221627318.9
• 申請日: 2022-06-27
• 公開（公告）號: CN217902326U
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發明（設計）人: 張信雄;王學文
• 申請（專利權）人: 嵐臺科技有限公司
• 主分類號: G05D23/24
• 分類號: G05D23/24
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 王俠

一種可調式獨立溫控的恒溫測試裝置，包括：一第一溫控部，具有一溫控盤面以供設置測試板，第一溫控部根據內部水流溫度對溫控盤面的一盤面溫度進行溫度控制；一第二溫控部，嵌設于第一溫控部內，第二溫控部對溫控盤面的部分區域進行溫度控制；一測量接口，具有測量盤面溫度的一第一測量部及測量測試板的一第二測量部；一冷卻器，連通第一溫控部；以及一控制裝置，電性連接測量接口、冷卻器及第二溫控部；其中控制裝置根據第一測量部的測量結果控制冷卻器直接對溫控盤面進行恒溫控制；其中控制裝置根據第二測量部的測量結果控制第二溫控部通過溫控盤面間接對測試板的部分區域進行恒溫控制。由此，可對測試板進行全面或局部的恒溫控制。

技術領域

本實用新型涉及一種測試裝置，特別是涉及一種測試發光組件的可調式獨立溫控的恒溫測試裝置。

背景技術

由于發光二極管在發光時會產生高溫，因此若要準確地測試使用壽命，就必須控制發光二極管的溫度，使發光二極管發光時維持恒溫。因此現有發光二極管測試壽命裝置通常是將發光二極管設置于散熱良好的散熱裝置上，然后利用照度計量取發光二極管的照度，進而計算出使用壽命。

但上述測試時是于機體內部進行，并通過機體提供類似烤箱功能對發光二極管提供熱源，然而受限于機體內部熱流無法均勻分布，因此不同位置的發光二極管就可能接收不同的熱源，也就是說發光二極管相互間存在測試條件不同，導致發光二極管壽命測試數據產生誤差。

實用新型內容

本實用新型實施例提供一種可調式獨立溫控的恒溫測試裝置，具有全面及局部恒溫的功能操作。該可調式獨立溫控的恒溫測試裝置解決或至少部分減輕背景技術中陳述的問題。

本實用新型實施例提供一種可調式獨立溫控的恒溫測試裝置，所述可調式獨立溫控的恒溫測試裝置適用于對一測試板進行恒溫測試，所述可調式獨立溫控的恒溫測試裝置包括：一第一溫控部，具有一溫控盤面以供設置所述測試板，所述第一溫控部根據內部水流溫度對所述溫控盤面的一盤面溫度進行溫度控制；一第二溫控部，嵌設于所述第一溫控部內，所述第二溫控部對所述溫控盤面的部分區域進行溫度控制；一測量接口，具有測量所述盤面溫度的一第一測量部及測量所述測試板的一第二測量部；一冷卻器，連通所述第一溫控部；以及一控制裝置，電性連接所述測量接口、所述冷卻器及所述第二溫控部；其中所述控制裝置根據所述第一測量部的測量結果控制所述冷卻器直接對所述溫控盤面進行恒溫控制；其中所述控制裝置根據所述第二測量部的測量結果控制所述第二溫控部通過所述溫控盤面間接對所述測試板的部分區域進行恒溫控制。

在一實施例中，其中所述測試板上設置有多個表面安裝組件，所述多個表面安裝組件包括多個發光組件及多個溫度感測組件，且任一所述發光組件的一側相鄰地設置有一個溫度感測組件，所述第二測量部包括一光源測量部與一溫度測量部，所述控制裝置通過所述光源測量部測量所述多個發光組件的光源亮度并且通過所述溫度測量部對應取得所述多個溫度感測組件的溫度感測值。

在一實施例中，其中所述第一測量部為設置于所述溫控盤面的至少一盤面溫度感測組件，所述第一溫控部包括一入水端及一出水端，所述入水端及所述出水端分別與所述冷卻器連通，所述冷卻器通過所述入水端提供流入于所述第一溫控部的一冷卻水，并通過所述出水端接收流出于所述第一溫控部的所述冷卻水，所述控制裝置控制所述冷卻器的所述冷卻水的水溫而對所述溫控盤面上的所述測試板進行散熱。

在一實施例中，其中所述第二溫控部具有分開設置的多個加熱部，所述控制裝置根據所述第一測量部中的所述多個溫度測量部取得所述多個溫度感測值并分別單獨控制所述多個加熱部的加熱運作。

在一實施例中，其中所述多個加熱部為多個加熱棒，且每一所述加熱棒平均分布于所述溫控盤面下方不同位置，所述多個加熱部的面積小于所述溫控盤面的面積，并且所述溫控盤面的面積大于等于所述測試板的面積。

在一實施例中，其中所述控制裝置控制所述多個加熱棒通過所述溫控盤面對所述測試板的不同區塊加熱，并使得所述測試板不同區塊加熱后呈現恒溫。