[實用新型]一種用于三維超聲成像系統的校準工具有效
| 申請號: | 202221614580.X | 申請日: | 2022-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN217932071U | 公開(公告)日: | 2022-11-29 |
| 發明(設計)人: | 吳嘉豪;陳沛峰;韓明珠;鄭永平 | 申請(專利權)人: | 中慧醫學成像(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/52 | 分類號: | G01S7/52;A61B8/00 |
| 代理公司: | 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217 | 代理人: | 車大瑩;郭偉剛 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區粵海街道高新區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 三維 超聲 成像 系統 校準 工具 | ||
1.一種用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,包括基板和開設在所述基板上的校準單元,所述基板包括上表面和下表面,所述校準單元包括開設在所述下表面上的多個凹槽結構,使用時,所述三維超聲成像系統的超聲探頭沿所述上表面掃描待測部位。
2.如權利要求1所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述基板選自亞克力板、ABS塑料板、POM塑料板及硅膠板中的一種。
3.如權利要求2所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述多個凹槽結構通過機械銑刀加工成型、模具成型或三維打印的方式形成在所述基板的下表面。
4.如權利要求1所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,還包括多個貫穿所述基板的上表面和下表面的定位孔。
5.如權利要求1所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述凹槽結構包括第一凹槽邊和第二凹槽邊,所述第一凹槽邊和所述第二凹槽邊的夾角范圍為0度到90度。
6.如權利要求5所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述第一凹槽邊和所述第二凹槽邊的夾角選自20度、40度和60度中的一個或多個。
7.如權利要求5所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述第一凹槽邊的長度小于15cm,所述第二凹槽邊的長度小于8cm。
8.如權利要求5所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述凹槽結構的底部距離所述上表面的距離的范圍為0.5cm到4cm。
9.如權利要求1所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述凹槽結構選自圓形凹槽、方形凹槽、三角形凹槽或星型凹槽中的一種或幾種。
10.如權利要求1所述的用于三維超聲成像系統的校準工具,其特征在于,所述下表面為拋光面。
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