[實用新型]一種自動控制的太陽模擬器光強均勻性測試系統

有效

• 申請號: 202221506124.3
• 申請日: 2022-06-16
• 公開（公告）號: CN217654729U
• 公開（公告）日: 2022-10-25
• 發明（設計）人: 廖金利;黃豪;徐文浩;崔建兵
• 申請（專利權）人: 蘇州邁越智能技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01J1/42
• 代理公司: 北京金智普華知識產權代理有限公司 11401
• 代理人: 徐會娟

本實用新型提供了一種自動控制的太陽模擬器光強均勻性測試系統，涉及太陽能電池技術領域，能夠自動化實現待測監視片的移動，不僅快速精準，還節約了人力成本，大大提高效率。該系統包括IV測試儀設備、導軌模塊、待測監視片、太陽光模擬器和上位機；導軌模塊和IV測試儀設備與上位機連接，太陽光模擬器與IV測試儀設備連接；待測監視片設于導軌模塊上并與IV測試儀設備連接；導軌模塊包括兩導軌和兩動力設備；第一導軌固定在測試區域，第二導軌正交式設于第一導軌上方，且第二導軌與第一導軌滑動連接；待測監視片設于第二導軌上方，且待測監視片與第二導軌滑動連接；第一動力設備與第二導軌固定連接；第二動力設備與待測監視片固定連接。

技術領域

本實用新型涉及太陽能電池技術領域，尤其涉及一種自動控制的太陽模擬器光強均勻性測試系統。

背景技術

隨著人民的用電需求持續增加，發電的供給側隨著用電的需求側的增幅而不斷提升，其中太陽能發電逐漸被大家所接受并應用，生產硅片的設備也日益增長，國內的設備廠家對設備精準度、成本、產能、方便度等方面都提出了更高的需求。在硅片測試和分類中，對模擬太陽光的均勻度更是提出了更高的要求。

由于測試儀需要測試的硅片尺寸各有不同，從而導致對測試儀的有效輻射面積的需求也各不相同。硅片測試儀的模擬太陽光組件與硅片之間存在一定間距等各種原因會引起測試區域局部的光強度與其他部位產生差異，從而導致硅片接收的光強度不一致，對硅片測試的最終結果產生影響。所以當模擬太陽光照射在硅片上時每一小塊區域的光是否均勻穩定的測試逐漸引起各廠家的關注。目前均勻度測試一般都是手動操作，精準度不高，且費時費力，并且目前使用的測試儀器大都是示波器和光電傳感器，成本也比較高。

因此，有必要研究一種新的自動控制的太陽模擬器光強均勻性測試系統來應對現有技術的不足，以解決或減輕上述一個或多個問題。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型提供了一種自動控制的太陽模擬器光強均勻性測試系統，能夠自動化實現待測監視片的移動，不僅快速精準，還節約了人力成本，大大提高效率。

本實用新型提供一種自動控制的太陽模擬器光強均勻性測試系統，其特征在于，所述系統包括IV測試儀設備、導軌模塊、待測監視片、太陽光模擬器和上位機；

所述導軌模塊和所述IV測試儀設備與所述上位機連接，所述太陽光模擬器與所述IV測試儀設備連接；

所述待測監視片設于所述導軌模塊上，并與所述IV測試儀設備連接。

如上所述的方面和任一可能的實現方式，進一步提供一種實現方式，所述導軌模塊包括第一導軌、第二導軌、第一動力設備和第二動力設備；

所述第一導軌固定在測試區域，所述第二導軌正交式設于所述第一導軌上方，且所述第二導軌與所述第一導軌滑動連接；所述待測監視片設于所述第二導軌上方，且所述待測監視片與所述第二導軌滑動連接；

所述第一動力設備與所述第二導軌固定連接；所述第二動力設備與所述待測監視片固定連接。

如上所述的方面和任一可能的實現方式，進一步提供一種實現方式，所述導軌模塊還包括軌道移動控制模塊，所述第一動力設備和所述第二動力設備均與所述軌道移動控制模塊電性控制連接；

所述軌道移動控制模塊與所述上位機連接。

如上所述的方面和任一可能的實現方式，進一步提供一種實現方式，所述第二導軌通過第一滑塊與所述第一導軌滑動連接，所述待測監視片通過第二滑塊與所述第二導軌滑動連接。

如上所述的方面和任一可能的實現方式，進一步提供一種實現方式，所述第一動力設備和所述第二動力設備均為絲杠電機；所述絲杠電機的絲杠平行于所述第一導軌或所述第二導軌設置，所述絲杠上的絲杠螺母與所述第二導軌或所述待測監視片固定連接。