[實用新型]相控陣天線測試系統

有效

• 申請號: 202221215759.8
• 申請日: 2022-05-20
• 公開（公告）號: CN218767124U
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 陳宇欽;何麗華;張佳鶯;袁國強;王琳
• 申請（專利權）人: 蘇州益譜電磁科技有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R1/04;G01R1/18
• 代理公司: 昆山中際國創知識產權代理有限公司 32311
• 代理人: 尤天珍

1.一種相控陣天線測試系統，其特征在于：包括微波暗室(1)、多軸被測物轉臺、多軸機械臂、探頭(9)、控制系統和數據處理單元，所述多軸被測物轉臺和多軸機械臂分別安裝于微波暗室的兩側，被測天線安裝于被測物轉臺上，多軸被測物轉臺能夠帶動被測天線(2)分別繞兩個相互垂直的轉軸轉動，所述探頭安裝在多軸機械臂上，多軸機械臂能夠帶動探頭在微波暗室的三維空間內任意運動，控制系統驅動多軸機械臂及探頭在微波暗室內運動使其與相控陣被測天線的每個單元陣子以相同的距離和角度正對，控制系統控制多軸被測物轉臺和多軸機械臂動作，數據處理單元能夠接收探頭測試數據和控制系統控制數據并通過計算獲取天線測試數據。

2.根據權利要求1所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述多軸被測物轉臺包括方位轉軸(6)、極化轉軸(7)和平移軸，所述方位轉軸安裝于微波暗室內，方位轉軸能夠繞豎直方向延伸的軸線轉動，平移軸能夠沿方位轉軸徑向滑動的安裝于方位轉軸上，極化轉軸安裝于平移軸上，極化轉軸能夠繞水平方向延伸的軸線轉動，極化轉軸上設有用于固定被測天線的天線定位裝置，控制系統控制方位轉軸和極化轉軸轉動。

3.根據權利要求2所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述極化轉軸的軸線位于方位轉軸軸線所在的豎直平面上，且天線定位裝置能夠使被測天線中心位于極化軸軸線和方位軸的軸線交點位置上。

4.根據權利要求2所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述多軸被測物轉臺還包括轉軸安裝底座，所述轉軸安裝底座安裝于微波暗室的地面上，方位轉軸安裝于轉軸安裝底座上。

5.根據權利要求4所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述多軸被測物轉臺還包括俯仰轉軸，所述俯仰轉軸安裝于轉軸安裝底座上，所述俯仰轉軸能夠繞水平延伸的軸線轉動，俯仰轉軸圓周外側壁上設有安裝臺面，所述方位轉軸安裝于俯仰轉軸圓周外側壁上的安裝臺面上，所述俯仰轉軸的軸線與極化轉軸的軸線垂直。

6.根據權利要求1所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述微波暗室內還固定設有第一水平滑軌(5)，所述多軸被測物轉臺能夠滑動的安裝于第一水平滑軌上，第一水平滑軌上還設有第一水平驅動裝置，所述第一水平驅動裝置驅動多軸被測物轉臺沿第一水平滑軌滑動改變被測天線與探頭之間的水平距離。

7.根據權利要求6所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述微波暗室內還固定設有第二水平滑軌(8)，所述第二水平滑軌延伸方向與天線定位裝置上相控陣被測天線的水平延伸方向平行，所述第二水平滑軌上能夠滑動的設有探頭滑座，探頭驅動裝置安裝于探頭滑座上，第二水平滑軌上還設有第二水平驅動裝置，所述第二水平驅動裝置驅動探頭滑座沿第二水平滑軌滑動使探頭與相控陣天線上沿水平方向排列的各個單元陣子正對。

8.根據權利要求7所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述第一水平滑軌和第二水平滑軌均為直線滑軌，且第一水平滑軌與第二水平滑軌垂直相交形成T形結構。

9.根據權利要求1所述的相控陣天線測試系統，其特征在于：所述多軸機械臂為六軸機械臂。