[實用新型]晶圓檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202221103780.9 | 申請日: | 2022-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN217954288U | 公開(公告)日: | 2022-12-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張記晨;楊金國;周許超;鄒秀陽;孫書誠 | 申請(專利權(quán))人: | 上海微電子裝備(集團)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/892 | 分類號: | G01N21/892 |
| 代理公司: | 上海思捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31295 | 代理人: | 張亞靜 |
| 地址: | 201203 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測 裝置 | ||
1.一種晶圓檢測裝置,其特征在于,包括:
運動組件,用于承載并驅(qū)動晶圓翻轉(zhuǎn);
照明組件,用于發(fā)出非平行的照明光束至所述晶圓的待測表面上;以及,
圖像檢測組件,用于在所述晶圓翻轉(zhuǎn)至預(yù)定角度時獲取所述待測表面的圖像。
2.如權(quán)利要求1所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述照明組件包括一個照明單元,所述照明單元用于發(fā)出非平行的照明光束。
3.如權(quán)利要求2所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述照明單元為一體式折彎光源、弧形光源或穹頂光源。
4.如權(quán)利要求1所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述照明組件包括至少兩個照明單元,每個所述照明單元用于發(fā)出非平行或平行的照明光束。
5.如權(quán)利要求4所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述照明單元為平板光源、一體式折彎光源、弧形光源及穹頂光源中的至少一者。
6.如權(quán)利要求4或5所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述照明單元具有兩個,所述圖像檢測組件位于兩個所述照明單元之間。
7.如權(quán)利要求6所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,兩個所述照明單元垂直設(shè)置。
8.如權(quán)利要求1-5中任一項所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述圖像檢測組件位于所述照明組件發(fā)出的照明光束之外,所述照明組件位于所述圖像檢測組件的檢測視野之外。
9.如權(quán)利要求2-5中任一項所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述運動組件驅(qū)動所述晶圓在一預(yù)定角度范圍內(nèi)翻轉(zhuǎn),所述晶圓翻轉(zhuǎn)至所述預(yù)定角度范圍內(nèi)的每個角度時,所述待測表面均可被照明光束完全覆蓋。
10.如權(quán)利要求9所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述待測表面可被任一所述照明單元發(fā)出的照明光束覆蓋;或者,所述待測表面可被至少兩個所述照明單元發(fā)出的照明光束拼接后覆蓋。
11.如權(quán)利要求9所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述預(yù)定角度范圍為0°~90°。
12.如權(quán)利要求2-5中任一項所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,每個所述照明單元的最大寬度均小于400毫米。
13.如權(quán)利要求2-5中任一項所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,還包括:
控制組件,用于單獨控制每個所述照明單元的開啟和關(guān)閉。
14.如權(quán)利要求1所述的晶圓檢測裝置,其特征在于,所述圖像檢測組件獲取的圖像用于實現(xiàn)所述晶圓的缺陷檢測或?qū)?zhǔn)。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





