[實用新型]一種用于大角度縱波檢測的等效試塊及系統

有效

• 申請號: 202220961440.3
• 申請日: 2022-04-24
• 公開（公告）號: CN217359750U
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 高延忠;侯召堂;殷尊;呂一楠;孫璞杰;李佼佼;高磊;林琳;王超
• 申請（專利權）人: 西安熱工研究院有限公司
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 李紅霖

1.一種用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，包括試塊本體(1)，所述試塊本體(1)的上端面(2)上設置第一刻度(6)，所述試塊本體(1)的下端面(3)上設置第二刻度(7)，所述試塊本體(1)的正面(4)開設第一半圓形槽(8)，所述試塊本體(1)的背面(5)開設第二半圓形槽(9)，所述第一半圓形槽(8)內開設有第一組橫通孔(10)，所述第二半圓形槽(9)內開設有第二組橫通孔(10)。

2.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，第一刻度(6)的零刻度線與第二刻度(7)的零刻度線及試塊本體(1)的中軸線位于同一平面內。

3.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，所述第一刻度(6)和第二刻度(7)中相鄰刻度線之間的距離為1mm。

4.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，所述第一刻度(6)及第二刻度(7)單側的最大量程為70mm。

5.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，第一半圓形槽(8)及第二半圓形槽(9)的軸線均與試塊本體(1)的中軸線平行，且第一半圓形槽(8)的軸線與第一刻度(6)的零刻度線之間的距離和第二半圓形槽(9)的軸線與第二刻度(7)的零刻度線之間的距離均為60mm。

6.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，第一半圓形槽(8)及第二半圓形槽(9)的半徑均為10mm。

7.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，第一組橫通孔(10)中的四個橫通孔(10)與試塊本體(1)的上端面(2)之間的距離分別為20mm、60mm、100mm及140mm，第二組橫通孔(10)中的三個橫通孔(10)與試塊本體(1)的上端面(2)之間的距離分別為40mm、80mm及120mm；

所述試塊本體(1)的長度為160mm，寬度為40mm，高度為150mm。

8.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，第一組橫通孔(10)中的各橫通孔(10)均設置于第一半圓形槽的最低位置處，第二組橫通孔(10)中的各橫通孔(10)設置于第二半圓形槽的最低位置處，且各橫通孔的直徑均為2mm，孔深均為30mm。

9.根據權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其特征在于，所述試塊本體(1)的上端面(2)及下端面(3)的粗糙度均小于等于1.6um，試塊本體(1)上其余面的粗糙度小于等于3.2um。

10.一種用于大角度縱波檢測的系統，其特征在于，包括大角度縱波換能器(11)、超聲模塊(12)、示波器(13)以及權利要求1所述的用于大角度縱波檢測的等效試塊，其中，超聲模塊(12)與示波器(13)及大角度縱波換能器(11)相連接，大角度縱波換能器(11)貼合于所述用于大角度縱波檢測的等效試塊上。