[實(shí)用新型]通電測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202220960804.6
• 申請(qǐng)日: 2022-04-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN217506010U
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉先俊
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 惠州市盈旺精密技術(shù)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 黃威

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N通電測(cè)試裝置，其包括第一模座、第二模座、探針以及壓頭，所述第一模座包括金屬支撐件，所述第一模座承載有產(chǎn)品，所述金屬支撐件承載所述產(chǎn)品的針體；所述第二模座與所述第一模座相對(duì)設(shè)置；所述探針連接至所述第二模座，并與所述針體對(duì)應(yīng)設(shè)置；所述壓頭連接至所述第二模座，并與所述產(chǎn)品相對(duì)設(shè)置；其中，所述第一模座和/或所述第二模座被驅(qū)動(dòng)時(shí)，所述壓頭抵接并驅(qū)動(dòng)所述產(chǎn)品貼合至所述第一模座，直至所述探針與所述針體抵接，既能夠提高測(cè)試效率，同時(shí)測(cè)試的過(guò)程中產(chǎn)品的鎖定位置準(zhǔn)確不變，因而可以保證探針與針體抵接時(shí)的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及治具技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種通電測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，各種家用及電子設(shè)備層出不窮，為保證使用性能，需要對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行通電測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行通電測(cè)試時(shí)，需要預(yù)先將待測(cè)產(chǎn)品固定在模座上，然后將模座以及位于其上的待測(cè)產(chǎn)品傳輸至測(cè)試工位，利用測(cè)試針與待測(cè)產(chǎn)品上的充電針進(jìn)行適配，從而進(jìn)行通電測(cè)試。但是，上述測(cè)試方式需要壓合工序和測(cè)試工序，利用壓合設(shè)備進(jìn)行待測(cè)產(chǎn)品的預(yù)固定后，再利用測(cè)試設(shè)備進(jìn)行通電測(cè)試，降低了通電測(cè)試的效率。

實(shí)用新型內(nèi)容

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N通電測(cè)試裝置，以解決壓合工序和測(cè)試工序組合導(dǎo)致通電測(cè)試效率低的技術(shù)問(wèn)題。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N通電測(cè)試裝置，其包括第一模座、第二模座、探針以及壓頭，所述第一模座包括金屬支撐件，所述第一模座用于承載產(chǎn)品，所述金屬支撐件用于承載所述產(chǎn)品的針體；所述第二模座與所述第一模座相對(duì)設(shè)置；所述探針連接至所述第二模座，并與所述針體對(duì)應(yīng)設(shè)置；所述壓頭連接至所述第二模座，并與所述產(chǎn)品相對(duì)設(shè)置；其中，所述第一模座和/或所述第二模座被驅(qū)動(dòng)時(shí)，所述壓頭抵接并驅(qū)動(dòng)所述產(chǎn)品貼合至所述第一模座，直至所述探針與所述針體抵接。

可選的，所述壓頭與所述第二模座通過(guò)彈性伸縮結(jié)構(gòu)連接。

可選的，所述壓頭包括第一壓合部和第二壓合部，所述第一壓合部連接至所述第二模座，且所述第一壓合部包括一容納腔；所述第二壓合部通過(guò)所述彈性伸縮結(jié)構(gòu)連接至所述第二模座；其中，所述彈性伸縮結(jié)構(gòu)位于所述容納腔內(nèi)，所述第二壓合部伸出所述容納腔，并驅(qū)動(dòng)所述產(chǎn)品貼合至所述第一模座。

可選的，所述壓頭還包括容納槽，所述容納槽貫穿開(kāi)設(shè)于所述壓頭的上下端面；其中，所述探針的一端連接至所述第二模座，其另一端從所述容納槽穿過(guò)。

可選的，通電測(cè)試裝置還包括至少一個(gè)第一限位柱和至少一個(gè)第一限位孔，第一限位柱連接至所述第二模座；第一限位孔內(nèi)凹式開(kāi)設(shè)于所述第一模座的端面；其中，每一所述第一限位柱能夠?qū)?yīng)插設(shè)至一所述第一限位孔內(nèi)。

可選的，通電測(cè)試裝置還包括至少一個(gè)第二限位柱和至少一個(gè)第二限位孔，第二限位柱連接至所述第一模座；第二限位孔內(nèi)凹式開(kāi)設(shè)于所述第二模座的端面；其中，每一所述第二限位柱能夠?qū)?yīng)插設(shè)至一所述第二限位孔內(nèi)。

可選的，每一所述第一限位柱的端部與對(duì)應(yīng)的所述第一限位孔的底壁之間的距離為L(zhǎng)1，所述探針與所述針體相對(duì)端之間的距離為L(zhǎng)2，其中L1＝L2；每一所述第二限位柱的端部與對(duì)應(yīng)的所述第二限位孔的底壁之間的距離為L(zhǎng)3，其中L3＝L2。

可選的，所述第一模座開(kāi)設(shè)有讓位槽，且所述產(chǎn)品的部分插設(shè)至所述讓位槽內(nèi)。

可選的，通電測(cè)試裝置還包括工作臺(tái)以及機(jī)架，工作臺(tái)包括一臺(tái)面；所述第一模座設(shè)置于所述臺(tái)面上；機(jī)架連接至所述臺(tái)面；所述機(jī)架上設(shè)有驅(qū)動(dòng)件，所述第二模座通過(guò)所述驅(qū)動(dòng)件連接至所述機(jī)架；其中，所述第二模座被所述驅(qū)動(dòng)件推動(dòng)，并適配于所述第一模座。

可選的，所述機(jī)架還包括連接板，所述連接板的一表面連接至所述第二模座，其另一表面連接至所述驅(qū)動(dòng)件；其中，所述連接板開(kāi)設(shè)有第一橫槽，使得所述第二模座能夠沿所述第一橫槽的方向被調(diào)整；所述第一模座開(kāi)設(shè)有第二橫槽，使得所述第一模座能夠沿所述第二橫槽的方向被調(diào)整；所述第一橫槽的延伸方向與所述第二橫槽的延伸方向垂直。