[實用新型]一種衰減可調的測試校準檢定裝置

有效

• 申請號: 202220866260.7
• 申請日: 2022-04-15
• 公開（公告）號: CN217133383U
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發明（設計）人: 但玉娟;劉志宏;趙恒立;于兵
• 申請（專利權）人: 中國測試技術研究院輻射研究所
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 成都蓉創智匯知識產權代理有限公司 51276
• 代理人: 譚新民

本實用新型涉及核輻射計量校準技術領域，具體涉及一種衰減可調的測試校準檢定裝置。該裝置包括沿輻射方向并排放置的n個可上下移動的移動滑塊，n≥2，所述輻射方向為輻射源射向測試點的方向，所述移動滑塊包括可讓輻射源射線束僅穿過空氣或“空氣等效”的第一部件和讓輻射源射線束穿過“非空氣等效”的第二部件，當輻射源射線束依次穿過n個移動滑塊的第一部件時，為無衰減狀態；當輻射源射線束依次穿過n個移動滑塊的第二部件時，為全衰減狀態；當輻射源射線束依次穿過n個移動滑塊的第一部件和第二部件的組合排列時，為部分衰減狀態。由此使得傳統的射線準直器具備了衰減功能，進一步減少了輻射源射線束的散射，保證了輻射場的均勻性和準確性。

技術領域

本實用新型涉及核輻射計量校準技術領域，具體涉及一種衰減可調的測試校準檢定裝置。

背景技術

參考輻射場的建立是核輻射計量技術的關鍵，參考輻射場的優劣情況直接影響了輻射計量的準確與否，為了保證輻射場的均勻性和準確性，CN201410679413.7提出了一種用于參考γ輻射場的γ射線準直器，該準直器僅為固定設置，缺少根據需要的輻照計量進行調節的功能。

實用新型內容

針對現有射線準直器缺少可調的衰減功能的問題，現提出一種衰減可調的測試校準檢定裝置，包括沿輻射方向并排放置的n個可上下移動的移動滑塊，n≥2，所述輻射方向為輻射源射向測試點的方向，所述移動滑塊包括可讓輻射源射線束僅穿過空氣或“空氣等效”的第一部件和讓輻射源射線束穿過“非空氣等效”的第二部件，所述第一部件和第二部件上下分布，當輻射源射線束依次穿過n個移動滑塊的第一部件時，為無衰減狀態；當輻射源射線束依次穿過n個移動滑塊的第二部件時，為全衰減狀態；當輻射源射線束依次穿過n個移動滑塊的第一部件和第二部件的組合排列時，為部分衰減狀態。

優選的，所述第一部件為沿輻射方向的通孔，所述通孔為限光孔。

優選的，所述限光孔為限光圓柱孔或限光圓錐孔。

優選的，所述限光孔的內表面等間隔設有直徑相同的環形槽，所述環形槽為俘獲槽。

優選的，所述俘獲槽的截面為矩形或三角形。

優選的，所述限光孔位于俘獲槽間的段的直徑沿輻射方向逐級遞增。

優選的，所述第二部件是由能夠衰減輻射源射線束劑量的材質制成的衰減片或過濾片，所述衰減片吸收輻射源射線束的劑量大于所述過濾片吸收輻射源射線束的劑量。

優選的，包括末級準直模塊，所述末級準直模塊位于靠近測試點的移動滑塊與測試點之間，所述末級準直模塊用于對經過移動滑塊的輻射源射線束進行準直操作。

優選的，包括屏蔽層，所述屏蔽層位于末級準直模塊和移動滑塊外，所述屏蔽層用于將末級準直模塊和移動滑塊包覆在內。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果為：

本實用新型中，通過設置多個包括相當于“中空段”的第一部件和相當于“實體段”的第二部件的可上下移動的移動滑塊結構，通過調整移動滑塊的相對位置，可以將測試校準檢定裝置調整為不同的狀態，使得輻射源發出的輻射源射線束依次可以通過全部第一部件、全部第二部件、以及第一部件和第二部件的組合，相應的，使得輻射源發出的輻射源射線束在經過測試校準裝置時獲得不同的狀態，即為無衰減狀態，全衰減狀態，部分衰減狀態，由于經過輻射源發出的輻射源射線束在經過添加的衰減片后一定程度上增加了散射，而根據相關技術要求，參考輻射場的散射影響應不超過5％，因此在第二部件中增加了俘獲槽，不僅如此，在輻射源射線束經過所有移動滑塊后又安排其進入末級準直模塊，并在滑塊和末級準直模塊外設置將其包裹的屏蔽層，進一步減少了輻射源射線束的散射，解決了增加衰減過后散射也加強的問題，從而保證了輻射場的均勻性和準確性，與此同時還使得傳統的射線準直器具備了可調的衰減功能。

附圖說明