[實用新型]光波導測量裝置

有效

• 申請號: 202220849733.2
• 申請日: 2022-04-12
• 公開（公告）號: CN217384658U
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 趙鵬;劉雄波;嚴子深;李屹
• 申請（專利權）人: 深圳光峰科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳市智圈知識產權代理事務所(普通合伙) 44351
• 代理人: 苗燕

1.一種光波導測量裝置，所述光波導包括光波導件以及設置于所述光波導件的表面的多組耦出器件，每組耦出器件包括耦入裝置和耦出裝置，相鄰的所述耦出器件之間具有間隔，其特征在于，所述光波導測量裝置包括：

光機，用于朝向待測耦出器件的所述耦入裝置出射耦入測量光；

相機，用于接收由所述耦出裝置耦出的耦出測量光；

防光串擾部件，所述防光串擾部件設置于所述光波導件，以阻斷待測耦出器件以外的雜散光對待測耦出器件的光串擾；

處理器，所述處理器分別與所述光機、所述相機通信連接，用于比對分析所述耦入測量光和所述耦出測量光分別形成圖案的一致性。

2.根據權利要求1所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述防光串擾部件包括吸光層或折射率大于所述光波導件的折射率的折射層，所述防光串擾部件設置于所述光波導件的表面。

3.根據權利要求2所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述光波導件包括相背的第一表面和第二表面以及連接所述第一表面和所述第二表面的側面，所述防光串擾部件設置于所述第一表面或所述第二表面且與所述間隔對應。

4.根據權利要求3所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述防光串擾部件的寬度大于等于測量光在一個全反射周期內在所述光波導件內行進的距離。

5.根據權利要求2所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述光波導件包括相背的第一表面和第二表面以及連接所述第一表面和所述第二表面的側面，所述防光串擾部件包括第一部件和第二部件，所述第一部件設置于所述第一表面，所述第二部件設置于所述第二表面。

6.根據權利要求5所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述第一部件以及所述第二部件的寬度大于等于測量光在一個全反射周期內在所述光波導件內行進的距離的一半。

7.根據權利要求5所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述第一部件在所述第二表面的正投影和所述第二部件重合。

8.根據權利要求3-7任一項所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述防光串擾部件的寬度小于相鄰的兩個耦出器件之間的間距。

9.根據權利要求2-7任一項所述的光波導測量裝置，其特征在于，所述光波導件包括相背的第一表面和第二表面以及連接所述第一表面和所述第二表面的側面，所述防光串擾部件設置于所述側面。

10.根據權利要求9所述的光波導測量裝置，其特征在于，設置于所述側面的所述防光串擾部件的厚度與所述光波導件的厚度相等。