[實用新型]一種新型USB-C多層組合電鍍抗腐蝕連接器端口

有效

• 申請號: 202220827017.4
• 申請日: 2022-04-11
• 公開（公告）號: CN217215178U
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 黃國華;覃開幸;肖彩輝
• 申請（專利權）人: 深圳市肖端電子有限公司
• 主分類號: H01R13/03
• 分類號: H01R13/03;H01R13/502
• 代理公司: 深圳市圳博友邦專利代理事務所(普通合伙) 44600
• 代理人: 王芬思

本實用新型公開了一種新型USB?C多層組合電鍍抗腐蝕連接器端口，屬于USB連接器端口技術領域，包括USB端口主體以及內嵌固定在USB端口主體中的安裝部，安裝部伸出USB端口主體的頂端等距內嵌固定有連接電極，連接電極包括底層基材以及電鍍在底層基材頂端的抗腐蝕層，抗腐蝕層從底層基材向外依次為電拋處理層、鎳層、第二金層、第二鉑金層、第二鈀鎳層、第一鉑金層、第一鈀鎳層、第一金層以及封孔處理層，安裝部上吻合套接有密封蓋，密封蓋與USB端口主體相近的一端均內嵌固定有磁吸塊，兩個磁吸塊相互吸合固定，該新型USB?C多層組合電鍍抗腐蝕連接器端口，便于對連接器端口進行防護，提升了USB?C超級快充端口的抗腐蝕性。

技術領域

本實用新型屬于USB連接器端口技術領域，具體涉及一種新型USB-C多層組合電鍍抗腐蝕連接器端口。

背景技術

市場發展步伐越來越快,USB-C超級快充端口已快速進入消費者視野，但隨之而來對USB-C連接器端口抗腐蝕性要求越來越高。

目前USBC型連接器端口的金層易磨損,從而外層鉑金要防充電過程時插拔磨損,又要阻隔外部氯離子防止腐蝕，避免造成超級快充失效，長時間使用鉑金層易發生磨損，從而導致了USB-C超級快充端口的抗腐蝕性差。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種新型USB-C多層組合電鍍抗腐蝕連接器端口，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種新型USB-C多層組合電鍍抗腐蝕連接器端口，包括USB端口主體以及內嵌固定在USB端口主體中的安裝部，上述安裝部伸出USB端口主體的頂端等距內嵌固定有連接電極，上述連接電極包括底層基材以及電鍍在底層基材頂端的抗腐蝕層，上述抗腐蝕層從底層基材向外依次為電拋處理層、鎳層、第二金層、第二鉑金層、第二鈀鎳層、第一鉑金層、第一鈀鎳層、第一金層以及封孔處理層。

進一步的，所述第一金層與第二金層的厚度均為0.05微米至0.762微米。

進一步的，所述第一鈀鎳層和第二鈀鎳層的厚度均為1.778微米至3.81微米。

進一步的，所述第一鉑金層和第二鉑金層的厚度均為0.508微米至1.27微米。

進一步的，所述鎳層的厚度為1.778微米至7.62微米。

進一步的，上述安裝部上吻合套接有密封蓋，上述密封蓋與USB端口主體相近的一端均內嵌固定有磁吸塊，兩個上述磁吸塊相互吸合固定。

該新型USB-C多層組合電鍍抗腐蝕連接器端口的技術效果和優點：通過連接電極包括底層基材以及電鍍在底層基材頂端的抗腐蝕層，抗腐蝕層從底層基材向外依次為電拋處理層、鎳層、第二金層、第二鉑金層、第二鈀鎳層、第一鉑金層、第一鈀鎳層、第一金層以及封孔處理層，在外層金與鉑金層之間增加鈀鎳層,增強了反復充電過程中的耐磨損性,保護下層鉑金層不受損傷,使其更好阻隔外部氯離子，提升了USB-C超級快充端口的抗腐蝕性；通過在安裝部上吻合套接有密封蓋，密封蓋和USB端口主體上均內嵌固定有磁吸塊，密封蓋可對安裝部進行防護，并通過磁吸塊使密封蓋與USB端口主體保持固定，便于對連接器端口進行防護。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例的結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例的USB端口主體內部結構示意圖；

圖3為本實用新型實施例的連接電極剖視結構示意圖。

圖中：1、USB端口主體；2、密封蓋；3、磁吸塊；4、連接電極；5、安裝部；6、封孔處理層；7、第一金層；8、第一鈀鎳層；9、第一鉑金層；10、第二鈀鎳層；11、第二鉑金層；12、第二金層；13、鎳層；14、電拋處理層；15、底層基材。

具體實施方式