[實用新型]封裝產品檢測治具和設備

有效

• 申請號: 202220826016.8
• 申請日: 2022-04-11
• 公開（公告）號: CN217491728U
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發明（設計）人: 王友彬;張志成;蒲飛
• 申請（專利權）人: 湖南三安半導體有限責任公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 楊勛

本實用新型實施例的封裝產品檢測治具和設備，通過將第一料盒以及第二料盒置于底座上檢測區的兩側，而第一料盒具有相對的第一料口和第一過孔，第二料盒具有第二料口，第一料口、檢測區和第二料口依次對應，進料推動件則設置于底座，被配置為能夠相對于第一料盒移動，以通過第一過孔伸入第一料盒內，從而將第一料盒內的待測產品推至檢測區，進而可以對待測產品進行外觀檢測，若檢測合格則利用進料推動件的移動將合格產品推至第二料口，以進入第二料盒內，如果檢測不合格則可以將不合格產品取出，再利用進料推動件將下一個待測產品推至檢測區以進行外觀檢測，檢測效率更高，也不再需要檢測人員手動拿取待測產品，從而避免對產品表面產生二次損壞。

技術領域

本實用新型涉及半導體檢測技術領域，尤其是涉及一種封裝產品檢測治具和設備。

背景技術

集成電路封裝形式多樣，制程工藝也是大相徑庭，但是成品外觀檢測是絕大部分封裝形式不可或缺的關鍵制程,其是將最終優質的成品分離出來。

封裝產品在生產時需要對其外觀進行檢測，傳動的檢測方式是工作人員手動拿取封裝產品放到顯微鏡下進行外觀檢測，因產品的多樣性、檢測人員的手法不一致性，不同封裝產品受人工檢測時影響，會對產品表面產生很多不必要的二次損壞，而且手動拿取產品再進行檢測的效率較低。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種封裝產品檢測治具和封裝產品檢測設備，能夠避免對產品表面產生二次損壞，且檢測效率更高。

本實用新型實施例的本實用新型實施例的封裝產品檢測治具和設備，通過將用于儲放待測產品的第一料盒以及用于儲放合格產品的第二料盒置于底座上檢測區的兩側，而第一料盒具有相對的第一料口和第一過孔，第二料盒具有第二料口，第一料口、檢測區和第二料口依次對應，進料推動件則設置于底座，被配置為能夠相對于第一料盒移動，以通過第一過孔伸入第一料盒內，從而將第一料盒內的待測產品推至檢測區，進而可以對位于檢測區上的待測產品進行外觀檢測，如果待測產品經檢測合格則利用進料推動件將合格產品推至第二料口，以進入第二料盒內，如果待測產品經檢測不合格則可以直接將不合格產品從檢測區取出，再利用進料推動件相對于第一料盒的移動將第一料盒內的下一個待測產品推至檢測區以進行外觀檢測，如此循環，即可完成第一料盒內所有待測產品的外觀檢測，檢測效率更高，也不再需要檢測人員手動拿取待測產品，從而避免對產品表面產生二次損壞。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型具體實施方式或現有技術中的技術方案，下面將對具體實施方式或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本實用新型的一些實施方式，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實施例封裝產品檢測治具的俯視圖；

圖2為將待測產品放入圖1中的第一料盒后的示意圖；

圖3為產品檢驗過程中的示意圖；

圖4為第一料盒中的待測產品全部檢驗完成后的示意圖。

圖標：1000-封裝產品檢測治具；110-底座；112-檢測區；114-第一安裝槽；116-第二安裝槽；130-第一料盒；132-第一料口；134-第一過孔；150- 第二料盒；152-第二料口；154-第二過孔；160-第一滑塊；170-進料推動件； 172-進料推桿；174-第一連接桿；176-第一移動桿；180-第二滑塊；190-退料推動件；192-退料推桿；194-第二連接桿；196-第二移動桿。

具體實施方式

為使本實用新型實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本實用新型實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。