[實用新型]一種容性電力設備的電容介質測試裝置有效
| 申請號: | 202220822996.4 | 申請日: | 2022-04-11 |
| 公開(公告)號: | CN217766627U | 公開(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發明(設計)人: | 張建;尹娟;張方榮;高興瓊 | 申請(專利權)人: | 成都高斯電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26;G01R1/02;G01R1/04;G01R1/28;G01R1/36;G01J5/00;G01K7/01;G01K7/02;G01K7/16;G01K13/00 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電力設備 電容 介質 測試 裝置 | ||
本實用新型公開了一種容性電力設備的電容介質測試裝置,包括電容介質測試單元、測試端口和被測容性電力設備;所述測試端口包括直接測試端口和隔離測量端口,所述直接測試端口的第一端與電容介質測試單元連接,直接測試端口的第二端通過隔離測量端口與被測容性電力設備連接;所述電容介質測試裝置還包括輔助電源和輔助電源注入端口,所述輔助電源注入端口設置在隔離測量端口與被測容性電力設備之間,所述輔助電源與輔助電源注入端口連接。本實用新型通過直接測試端口連接被測設備達不到測試要求的時候,通過輔助電源或極化去極化電源改變被測設備內部電場的方式增強測試效果。
技術領域
本實用新型涉及電容介質測試,特別是涉及一種容性電力設備的電容介質測試裝置。
背景技術
目前輸變電、配電、發電、工礦企業的變壓器、電纜、電容器的電容量、介質損耗測試都是單通道測試,不僅效率低,還存在幾個痛點問題:
(1)電容量隨環境溫度和設備內部介質溫度變化,單一電容量或介質損耗不能滿足精確評價設備的要求。
(2)因為環境和試驗信號的影響,多個通道電容量不能及時對比,導致電容差異不能及時發現;
(3)被測設備有殘余電壓時未能很好的隔離和保護測試人員和測試設備,不僅容易得出錯誤數據,還可能誘發人身安全。
(4)無法測量帶電設備某個節點或節點之間的電容。
實用新型內容
本實用新型的目的在于克服現有技術的不足,提供一種容性電力設備的電容介質測試裝置,被測設備達不到測試要求,通過輔助電源或極化去極化電源改變被測設備內部電場的方式增強測試效果。
本實用新型的目的是通過以下技術方案來實現的:一種容性電力設備的電容介質測試裝置,包括電容介質測試單元、測試端口和被測容性電力設備;
所述測試端口包括直接測試端口和隔離測量端口,所述直接測試端口的第一端與電容介質測試單元連接,直接測試端口的第二端通過隔離測量端口與被測容性電力設備連接。所述直接測試端口的第二端還直接與被測容性電力設備連接。
所述電容介質測試裝置還包括輔助電源和輔助電源注入端口,所述輔助電源注入端口設置在隔離測量端口與被測容性電力設備之間,所述輔助電源與輔助電源注入端口連接。
優選地,所述輔助電源為極化電源、去極化電源或偏置電源;所述偏置電源包括正負直流電壓、交流脈沖、交流正弦波、交流余弦波電源的一種。所述直接測試端口與隔離測量端口通過開關、射頻端口連接件、排插、航空頭、焊接或印制線路的連接。
優選地,所述電容介質測量單元包括介質測量模塊和溫度測量模塊;
所述介質測量模塊包括微處理器、I/O口、ADC芯片和數字式電容測量模塊;所述微處理器分別與I/O口、ADC芯片和數字式電容測量模塊連接,所述微處理器還與直接測試端口連接;
所述溫度測量模塊為紅外測溫器件、熱電偶測溫器件、RTD、半導體測溫器件、數字測溫芯片中一種或多種的組合;其中紅外測溫器件、半導體測溫器件采用數字式溫度測量器件,輸出與I/O口直接相連;熱電偶測溫器件、RTD采用模擬測溫器件,輸出通過ADC芯片與微處理器連接。
優選地,數字式測測量模塊為電容數字轉換器,包括PCAP01,PCAP02,PCAP03,PCAP04,AD7147,AD7148,AD7745,PDC2214中的一種;所述微處理器為C8051F,STM32,FPGA,ESP32,EPS8266,ATMEGA 8/32,STC51系列,PIC16F,工控機中的一種。
優選地,所述隔離測量端口為一個或多個串聯的電容C、電容與電阻R的并聯RC、電容與電阻R的串聯RC支路、帶低頻陷波器的RC端口網絡、RLC端口網絡的一種;
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