[實用新型]一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置

有效

• 申請號: 202220611181.1
• 申請日: 2022-03-21
• 公開（公告）號: CN217533347U
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發明（設計）人: 周凱咨
• 申請（專利權）人: 佛山明凱泰克機械有限公司
• 主分類號: B65B15/04
• 分類號: B65B15/04;B65B35/26;B65B57/14
• 代理公司: 無錫盛陽專利商標事務所(普通合伙) 32227
• 代理人: 顧朝瑞

1.一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置，其包括上料機構、外觀檢查工位和編帶包裝工位，所述外觀檢查工位包括用于拍攝電子元件外觀的攝像頭，所述編帶包裝工位包括用于收放編帶的收放裝置，其特征在于：所述外觀檢查工位還包括位于上料機構上方的豎直的取料轉盤、位于所述取料轉盤一側的水平的編帶轉盤、轉移機構一，所述編帶包裝工位還包括轉移機構二，所述上料機構包括頂出機構，所述攝像頭包括位于所述取料轉盤處的攝像頭一和位于所述編帶轉盤處的攝像頭二；所述取料轉盤和所述編帶轉盤的圓周方向上分別均勻設有用于吸附電子元件的吸附位，所述頂出機構用于將電子元件朝向所述取料轉盤的吸附位頂出，所述轉移機構一用于將所述取料轉盤上的電子元件轉移至所述編帶轉盤的吸附位上，所述轉移機構二用于將所述編帶轉盤上的電子元件轉移至所述編帶上。

2.根據權利要求1所述的一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置，其特征在于：當電子元件位于載盒中時，載盒上開設有用于容納電子元件的放置槽，所述放置槽上方開口同時放置槽底部開設有通孔；所述上料機構包括位移機構，所述位移機構用于將所述放置槽的通孔逐個移動至所述頂出機構的上方，所述頂出機構通過所述通孔將電子元件頂出至所述吸附位。

3.根據權利要求1所述的一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置，其特征在于：當電子元件為散料時，所述上料機構包括排列裝置、上料軌道和頂出機構，所述上料軌道端部開設有通孔，所述頂出機構位于所述通孔下方，所述頂出機構通過所述通孔將電子元件頂出至所述吸附位。

4.根據權利要求2或3所述的一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置，其特征在于：所述吸附位為真空吸槽，所述真空吸槽對應所述取料轉盤或者所述編帶轉盤的軸向兩側貫穿，所述真空吸槽的槽底設有吸附口用于吸附電子元件。

5.根據權利要求4所述的一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置，其特征在于：所述轉移機構一包括位于所述取料轉盤軸向一側的推桿一、位于所述取料轉盤軸向另一側的支撐臺一、推桿二，所述推桿一用于將電子元件推至所述支撐臺一上，所述推桿二用于將支撐臺一上的電子元件推入編帶轉盤的真空吸槽中；所述轉移機構二包括位于所述編帶轉盤上方的推桿三、位于所述編帶轉盤下方的支撐臺二、推桿四，所述推桿三用于將電子元件推至所述支撐臺二上，所述推桿四用于將支撐臺二上的電子元件推入編帶中。

6.根據權利要求5所述的一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置，其特征在于：所述攝像頭一至少位于所述取料轉盤的軸向兩側和圓周外側中的一側；所述攝像頭二至少位于所述編帶轉盤的軸向兩側和圓周外側中的一側，所述攝像頭正對于電子元件上待外觀檢測的面。

7.根據權利要求1所述的一種用于電子元件外觀檢查和包裝的裝置，其特征在于：所述編帶轉盤外側還設有不良品落料位和落料檢查位。