[實用新型]一種電子玻璃熱收縮測試裝置有效
| 申請號: | 202220405450.9 | 申請日: | 2022-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN217404192U | 公開(公告)日: | 2022-09-09 |
| 發明(設計)人: | 蘭靜;王答成;曾召 | 申請(專利權)人: | 彩虹顯示器件股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N25/16 | 分類號: | G01N25/16;G01B11/02 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 房鑫 |
| 地址: | 712000 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子 玻璃 收縮 測試 裝置 | ||
本實用新型屬于電子玻璃技術領域,公開了一種電子玻璃熱收縮測試裝置,包括攝像頭、高倍率放大鏡、樣品平臺、帶有刻度尺的X軸及Y軸軌道、光源以及設備基體。高倍率放大鏡鑲嵌入攝像頭內,攝像頭與裝有測試軟件的計算設備連接。樣品平臺分上下兩層,樣品平臺下層與設備基體連接,以支撐樣品平臺,樣品平臺上層可在計算機軟件控制下,在X軸及Y軸軌道上移動,以此測試樣品處理前后的長度,從而計算其熱收縮值。本實用新型測試裝置操作簡便,測試過程簡單且精確度高,誤差小。
技術領域
本實用新型屬于電子玻璃技術領域,涉及一種電子玻璃熱收縮測試裝置。
背景技術
隨著顯示技術行業的快速發展,人們對各種顯示器件的需求正在不斷增長。在顯示器制造過程中,需要在較高溫度下進行多次處理,如在非晶硅(a-Si)TFT的生產制程中,需在300~450℃溫度下多次處理,而對于多晶硅(P-Si)TFT,則需要在450~600℃溫度下多次處理,這就要求顯示器使用的電子玻璃必須在多次高溫處理過程中不能發生顯著的變形,因此對玻璃的熱穩定性和尺寸穩定性提出了更高的要求,即電子玻璃必須有足夠小的“熱收縮”值。
因此,在研發或生產過程中,需要測試玻璃的收縮率。目前行業內測試熱收縮的方法主要為劃線法,使用可在玻璃表面劃線的器具,如維氏硬度計壓頭、玻璃刀或者砂紙等,在樣品的兩端進行劃線標記,隨后將樣品分成兩片,一片作為基體不處理,另一片則在測試條件下處理作為處理樣,隨后將處理樣與基體樣拼接到一起,利用顯微鏡測試樣品兩端劃線的差值,從而計算出樣品的熱收縮率。但這種方法在劃線時會使玻璃由于受力不均導致在顯微鏡下查看劃線處清晰度不一,且拼接后并不能保證處理樣和基體在同一焦平面,這都會導致測量誤差較大且耗時較長,因此需要一種測量精度大且操作簡單的玻璃熱收縮測試裝置。
實用新型內容
針對現有技術中存在的問題,本實用新型提供一種用于電子玻璃的熱收縮測試裝置,解決了現有測試中因劃線差異導致的測量誤差大、且測試過程耗時較長的缺點。
本實用新型是通過以下技術方案來實現:
一種電子玻璃熱收縮測試裝置,包括攝像頭、樣品平臺、設備基體以及計算設備;所述攝像頭設置在設備基體的一端;所述樣品平臺包括上層面、下層面和樣品承載板,所述樣品平臺的下層面與設備基體連接,所述上層面與計算設備電性連接;所述計算設備與攝像頭電性連接;當測試時,樣品承載板放置在上層面上。
優選的,所述攝像頭的內部設置有高倍率放大鏡。
優選的,下層面的邊緣上設置有X軸軌道和Y軸軌道,所述X軸軌道與Y軸軌道相互垂直設置;所述X軸軌道和Y軸軌道上均設有刻度尺。
優選的,X軸軌道的內側壁上設有凹槽,所述上層面的背面設置有滾輪,所述滾輪在X軸軌道的內側壁上的凹槽中滑動,從而實現上層面的移動。
優選的,上層面和下層面均設有光源透過的槽孔;當測試時,樣品承載板覆蓋在槽孔上。
優選的,設備基體的底部臺面上設置有鹵素燈光源組件。
優選的,攝像頭采用CMOS攝像頭。
優選的,計算設備包括計算機和顯示器。
與現有技術相比,本實用新型具有以下有益的技術效果:
本實用新型提供一種用于電子玻璃的熱收縮測試裝置,有效的解決了現有測試中因劃線差異導致的測量誤差大、且測試過程耗時較長的缺點;同時,本實用新型的電子玻璃的熱收縮測試裝置操作簡單,樣品平臺的上層面可在計算裝置的控制下在帶有刻度尺的X軸及Y軸上移動,并在聚焦清晰后測出待測樣品兩端的距離,不需要手動移動樣品。此外,本實用新型測試裝置在測試過程中無需在樣品表面劃線,這樣既防止了劃線過程中樣品破碎,又防止了劃線粗細不一導致在攝像頭及高倍率放大鏡下顯示的劃線不清晰及對焦困難的情況,使得測試結果誤差小,精度大。
附圖說明
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