[實用新型]圓盤式芯片測試座

有效

• 申請號: 202220321060.3
• 申請日: 2022-02-17
• 公開（公告）號: CN217007421U
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 殷凌一
• 申請（專利權）人: 寧波芯測電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 杭州斯可睿專利事務所有限公司 33241
• 代理人: 林天哲

1.一種圓盤式芯片測試座，包括主體(1)，其特征在于所述主體(1)包括底座(2)和圓環形的上蓋(3)，上蓋(3)套設在底座(2)上，上蓋(3)上設有卡槽(4)，底座(2)上設有與卡槽(4)配合的卡鉤(5)，底座(2)外側設有安裝槽(6)，安裝槽(6)底部設有伸出孔(7)，安裝槽(6)上設有電連接器(8)，電連接器(8)從上到下包括V型夾(9)和伸出腳(10)，伸出腳(10)穿設在伸出孔(7)上，V型夾(9)包括內邊(11)和外邊(12)，內邊(11)與安裝槽(6)側壁抵接，外邊(12)朝向外側，外邊(12)上設有動作邊(13)，上蓋(3)內側壁上設有收納槽(14)，動作邊(13)設置在收納槽(14)內。

2.根據權利要求1所述的一種圓盤式芯片測試座，其特征是：所述收納槽(14)上設有斜面(15)，且動作邊(13)與斜面(15)抵接。

3.根據權利要求2所述的一種圓盤式芯片測試座，其特征是：所述底座(2)上設有阻擋環(16)，阻擋環(16)設置在上蓋(3)下方。

4.根據權利要求3所述的一種圓盤式芯片測試座，其特征是：所述內邊(11)頂部設有向內側的折邊(17)，安裝槽(6)上設有與折邊(17)配合的斜坡(18)。

5.根據權利要求4所述的一種圓盤式芯片測試座，其特征是：所述底座(2)底部設有減重槽(19)。

6.根據權利要求5所述的一種圓盤式芯片測試座，其特征是：所述上蓋(3)側表面上設有凹槽(20)，卡槽(4)設置在凹槽(20)內。