[實用新型]一種電子產品老化試驗測控系統

有效

• 申請號: 202220192205.4
• 申請日: 2022-01-24
• 公開（公告）號: CN217060792U
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發明（設計）人: 劉洪平;沈建文;胡云梅;奎曉燕;金磊;趙越;劉科曼;高赟;劉小建;馬陽
• 申請（專利權）人: 云南昆船電子設備有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 昆明今威專利商標代理有限公司 53115
• 代理人: 賽曉剛

1.一種電子產品老化試驗測控系統，包括上位機(1)、控制單元(2)和采集單元(3)，所述控制單元(2)和采集單元(3)均與被試產品(4)通訊連接，其特征在于，所述采集單元(3)包括：MCU(31)、電源高邊檢測單元(33)、模擬信號調理單元(34)、比較器(35)和AD采集單元(32)，所述電源高邊檢測單元(33)和模擬信號調理單元(34)與AD采集單元(32)連接，所述比較器(35)和AD采集單元(32)與所述MCU(31)連接，所述MCU(31)與控制單元(2)通訊連接。

2.如權利要求1所述的電子產品老化試驗測控系統，其特征在于，所述控制單元(2)包括：微控制器(21)、繼電器(22)和通訊模塊，所述微控制器(21)通過所述繼電器(22)與聲光報警器(6)連接，所述微控制器(21)通過通訊模塊分別與上位機(1)、MCU(31)和被試產品(4)通訊連接。

3.如權利要求2所述的電子產品老化試驗測控系統，其特征在于，所述通訊模塊包括：RS485通訊模塊(25)、TCP通訊模塊(23)和UDP通訊模塊(24)，所述微控制器(21)通過RS485通訊模塊(25)與所述MCU(31)連接，所述微控制器(21)通過TCP通訊模塊(23)與所述上位機(1)連接，所述微控制器(21)通過UDP通訊模塊(24)與被試產品(4)連接。

4.如權利要求2所述的電子產品老化試驗測控系統，其特征在于，所述被試產品(4)的供電線路上設有固態繼電器(7)，所述固態繼電器(7)與所述微控制器(21)連接。

5.如權利要求1所述的電子產品老化試驗測控系統，其特征在于，采集單元(3)還包括EEPROM(36)，所述EEPROM(36)與MCU(31)連接。

6.如權利要求1所述的電子產品老化試驗測控系統，其特征在于，所述上位機(1)連接有語音播報模塊(5)。