[實用新型]一種基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀

有效

• 申請號: 202220136312.5
• 申請日: 2022-01-19
• 公開（公告）號: CN215953730U
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發明（設計）人: 鄭依凡
• 申請（專利權）人: 武漢大學
• 主分類號: G01R23/165
• 分類號: G01R23/165;G01R23/02
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 龔雅靜

1.一種基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：包括系統控制模塊、信號產生模塊、待測LTI系統模塊、第一模擬開關、第一乘法器、第二乘法器、第二模擬開關、低通濾波模塊、信號隔離模塊、A/D采樣模塊和顯示模塊；

所述系統控制模塊的第一輸出端和信號產生模塊的輸入端相連，所述信號產生模塊的第一輸出端與所述第一乘法器的第一輸入端相連，所述信號產生模塊的第二輸出端與所述待測LTI系統模塊的輸入端和所述第二乘法器的第一輸入端相連，所述待測LTI系統模塊的輸出端與所述第一模擬開關的輸入端相連，所述第一模擬開關的第一輸出端和第二輸出端分別與所述第一乘法器的第二輸入端和所述第二乘法器的第二輸入端相連，所述第一乘法器的輸出端和所述第二乘法器的輸出端分別與所述第二模擬開關的第一輸入端和第二輸入端相連，所述第二模擬開關的輸出端與所述低通濾波模塊的輸入端相連，所述低通濾波模塊的輸出端與所述信號隔離模塊的輸入端相連，所述信號隔離模塊的輸出端相連所述A/D采樣模塊的輸入端相連，所述A/D采樣模塊的輸出端與所述系統控制模塊的輸入端相連，所述系統控制模塊的第二輸出端與顯示模塊相連，所述系統控制模塊的第三輸出端和第四輸出端分別與所述第一模擬開關和所述第二模擬開關相連。

2.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述顯示模塊采用OLED顯示屏。

3.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述信號產生模塊的型號為AD9985。

4.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述第一模擬開關和所述第二模擬開關的型號均為TS12A12511。

5.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述第一乘法器和所述第二乘法器的型號均為AD835。

6.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述低通濾波模塊采用一階無源濾波電路。

7.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述信號隔離模塊的型號為OPA690。

8.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述A/D采樣模塊選型為ADS8505。

9.根據權利要求1所述的基于零中頻解調原理的頻率特性測試儀，其特征在于：所述系統控制模塊采用FPGA作為控制器。