[實用新型]一種非接觸式方阻及電阻率探頭裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202220106083.2
• 申請日: 2022-01-14
• 公開（公告）號: CN217689165U
• 公開（公告）日: 2022-10-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黨小鋒;劉全義;張月蘭;翁端佳
• 申請（專利權(quán)）人: 九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R1/04
• 代理公司: 蘇州匯德卓越專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32496
• 代理人: 許京波

本實用新型涉及到一種非接觸式方阻及電阻率探頭裝置，包括分體設(shè)置的第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)，第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)之間形成用于放置待檢測物體的待檢測區(qū)；第一檢測機(jī)構(gòu)包括第一金屬檢測殼以及第一檢測探頭，還包括設(shè)置在第一金屬檢測殼內(nèi)的第一控制電路板，第一控制電路板與第一檢測探頭連接；第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)基本對稱，將第一檢測探頭和第一控制電路板固定在一起后，組成探頭檢測模塊；通過承載臺承接并調(diào)整待測物體的位置，然后將第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)分別懸空固定在待測物體上方和下方，搭建出測定裝置，再通過設(shè)置在控制電路板上的軟件和電路結(jié)構(gòu)控制此裝置測定待測物體的電阻率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及一種電阻探測裝置，特別涉及一種非接觸式方阻及電阻率探頭裝置。

背景技術(shù)

方阻儀是用來測量物體方阻的，電阻儀是用來測量物體電阻的，無論是方阻儀還是電阻儀，都包括測量主機(jī)以及探測探頭，目前市場上的測定探頭均為手持式的便攜式探頭，其主測探頭與控制電路是分體的，以至于其間存在一定長度線路，此線路受外界干擾較大，且信噪比低，控制電路與探頭通過一段線纜相接，使得二者距離遠(yuǎn)，檢測探頭裝置的精度和穩(wěn)定性差。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的是提供一種非接觸式方阻及電阻率探頭裝置。

本實用新型的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實現(xiàn)的：一種非接觸式方阻及電阻率探頭裝置，包括分體設(shè)置的第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)，所述第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)之間形成用于放置待檢測物體的待檢測區(qū)；所述第一檢測機(jī)構(gòu)包括第一金屬檢測殼以及第一檢測探頭，還包括設(shè)置在第一金屬檢測殼內(nèi)的第一控制電路板，所述第一控制電路板與第一檢測探頭連接；

所述第二檢測機(jī)構(gòu)包括第二金屬檢測殼以及第二檢測探頭，還包括設(shè)置在第二金屬檢測殼內(nèi)的第二控制電路板，所述第二控制電路板與第二檢測探頭連接。

通過采用上述技術(shù)方案，第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)基本對稱，將第一檢測探頭和第一控制電路板固定在一起后，組成探頭檢測模塊，隨后在將探頭檢測模塊放置在第一金屬檢測殼中進(jìn)行固定；同理，將第二檢測探頭和第二控制電路板固定在一起后，組成探頭檢測模塊，隨后在將探頭檢測模塊放置在第二金屬檢測殼中進(jìn)行固定。

通過承載臺承接并調(diào)整待測物體的位置，然后將第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)分別懸空固定在待測物體上方和下方，搭建出測定裝置，再通過設(shè)置在控制電路板上的軟件和電路結(jié)構(gòu)控制此裝置測定待測物體的電阻率。

作為優(yōu)選，所述第一金屬檢測殼、第二金屬檢測殼為方形。

作為優(yōu)選，所述第一檢測探頭和第二檢測探頭設(shè)置有多組。

通過采用上述技術(shù)方案，這種方形的檢測機(jī)構(gòu)，可以設(shè)置多組檢測探頭，同時測量物體多處的電阻率，提高測量效率和準(zhǔn)確率。

作為優(yōu)選，所述第一金屬檢測殼、第二金屬檢測殼為圓柱形。

作為優(yōu)選，所述第一金屬檢測殼背離第一檢測探頭的端部設(shè)置有防水?dāng)Q頭。

作為優(yōu)選，所述第二金屬檢測殼背離第二檢測探頭的端部設(shè)置有金屬殼堵頭。

作為優(yōu)選，所述防水?dāng)Q頭采用不銹鋼。

綜上所述，本實用新型具有以下有益效果：

1、第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)基本對稱，將第一檢測探頭和第一控制電路板固定在一起后，組成探頭檢測模塊，隨后在將探頭檢測模塊放置在第一金屬檢測殼中進(jìn)行固定；同理，將第二檢測探頭和第二控制電路板固定在一起后，組成探頭檢測模塊，隨后在將探頭檢測模塊放置在第二金屬檢測殼中進(jìn)行固定；通過承載臺承接并調(diào)整待測物體的位置，然后將第一檢測機(jī)構(gòu)和第二檢測機(jī)構(gòu)分別懸空固定在待測物體上方和下方，搭建出測定裝置，再通過設(shè)置在控制電路板上的軟件和電路結(jié)構(gòu)控制此裝置測定待測物體的電阻率。

附圖說明